Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
一种半导体激光器光电测试装置 | |
其他题名 | 一种半导体激光器光电测试装置 |
唐宽平; 孙睦光; 李彦军; 谢士金; 何德毅; 马军 | |
2004-07-07 | |
专利权人 | 惠州市中科光电有限公司 |
公开日期 | 2004-07-07 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 实用新型 |
摘要 | 一种多路半导体激光器光电测试装置,包括激光器驱动电路、开关电路、被测激光器及其探测器、数据采集电路,对各电路统一进行控制的计算机直接与激光器驱动电路、开关电路、数据采集电路联接。本实用新型通过计算机控制使某一路激光器点亮,同时探测到该激光器输出光功率、结电压、监测器电流等参数并采集到计算机储存起来。由此通过快速多点控制及多点数据采集得到激光器的特性曲线,从而准确得知激光器的多项特性参数,再与标准参数比较,即可自动分析、判别各激光器的性能优劣,使检测过程实现了大规模工业化检测。本实用新型自动分析判别每只激光器的性能好坏,可一次检测多个激光器,大大提高检测效率。 |
其他摘要 | 一种多路半导体激光器光电测试装置,包括激光器驱动电路、开关电路、被测激光器及其探测器、数据采集电路,对各电路统一进行控制的计算机直接与激光器驱动电路、开关电路、数据采集电路联接。本实用新型通过计算机控制使某一路激光器点亮,同时探测到该激光器输出光功率、结电压、监测器电流等参数并采集到计算机储存起来。由此通过快速多点控制及多点数据采集得到激光器的特性曲线,从而准确得知激光器的多项特性参数,再与标准参数比较,即可自动分析、判别各激光器的性能优劣,使检测过程实现了大规模工业化检测。本实用新型自动分析判别每只激光器的性能好坏,可一次检测多个激光器,大大提高检测效率。 |
申请日期 | 2003-06-26 |
专利号 | CN2624203Y |
专利状态 | 失效 |
申请号 | CN03247929.8 |
公开(公告)号 | CN2624203Y |
IPC 分类号 | G01M11/02 | H01S3/0941 |
专利代理人 | 罗晓林 |
代理机构 | 广州粤高专利代理有限公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49029 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 惠州市中科光电有限公司 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 唐宽平,孙睦光,李彦军,等. 一种半导体激光器光电测试装置. CN2624203Y[P]. 2004-07-07. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN2624203Y.PDF(473KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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