Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
磁光涡流成像无损检测装置 | |
其他题名 | 磁光涡流成像无损检测装置 |
朱目成; 曹剑; 王雅萍 | |
2005-08-24 | |
专利权人 | 西南科技大学 |
公开日期 | 2005-08-24 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 实用新型 |
摘要 | 本实用新型为一种对各种材料和器件表面进行无损缺陷检测的装置,特别是采用涡流法进行检测的磁光涡流成像无损检测装置,由架体纵向固定的半导体激光光源、偏振分光器、磁感应器及磁感应器下端固定的法拉第旋转元件和架体横向固定的偏振分光器、偏振片、凸透镜、成像显示器构成,其中,偏振分光器在纵、横架体的交叉点上,偏振分光器沿45°角镀有下层单向反光膜。本实用新型与现有涡流检测相比优点是:检测准确度高,是现有涡流检测效率的5-50倍;检测时无需对被测件表面油漆等清除;检测结果图象化,直观易懂,可通过录象保存。 |
其他摘要 | 本实用新型为一种对各种材料和器件表面进行无损缺陷检测的装置,特别是采用涡流法进行检测的磁光涡流成像无损检测装置,由架体纵向固定的半导体激光光源、偏振分光器、磁感应器及磁感应器下端固定的法拉第旋转元件和架体横向固定的偏振分光器、偏振片、凸透镜、成像显示器构成,其中,偏振分光器在纵、横架体的交叉点上,偏振分光器沿45°角镀有下层单向反光膜。本实用新型与现有涡流检测相比优点是:检测准确度高,是现有涡流检测效率的5-50倍;检测时无需对被测件表面油漆等清除;检测结果图象化,直观易懂,可通过录象保存。 |
申请日期 | 2004-04-29 |
专利号 | CN2720440Y |
专利状态 | 失效 |
申请号 | CN200420034688.7 |
公开(公告)号 | CN2720440Y |
IPC 分类号 | G01N27/90 |
专利代理人 | 周小朴 |
代理机构 | 绵阳市蜀北专利有限公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49025 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 西南科技大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 朱目成,曹剑,王雅萍. 磁光涡流成像无损检测装置. CN2720440Y[P]. 2005-08-24. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN2720440Y.PDF(349KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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