Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
GaN基半导体器件 | |
其他题名 | GaN基半导体器件 |
后藤修; 松本治; 佐佐木智美; 池田昌夫 | |
2008-12-03 | |
专利权人 | 索尼株式会社 |
公开日期 | 2008-12-03 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 授权发明 |
摘要 | 一种GaN半导体发光器件,形成在GaN单晶衬底上且具有使电流泄漏更小的结构。该GaN半导体激光器件(50)包括设置在多层结构上的p侧和n侧电极,并具有与蓝宝石衬底上制造的传统GaN半导体激光器件相同的结构,除了用GaN单晶衬底(52)取代蓝宝石衬底且GaN化合物半导体层的多层结构直接形成在GaN单晶衬底(52)上而未形成GaN-ELO结构层之外。GaN单晶衬底(52)具有每个均具有10μm的宽度的连续带状核部分(52a),核部分(52)之间的距离约400μm。激光带(30)、p侧电极(36)的金属焊垫(37)、以及n侧电极(38)设置在除核部分(52a)之外的区域上的多层结构上。金属焊垫(37)的侧边缘与核部分的边缘之间的水平距离Sp和n侧电极(38)与核部分(52a)的边缘之间的水平距离Sn都为95μm。 |
其他摘要 | 一种GaN半导体发光器件,形成在GaN单晶衬底上且具有使电流泄漏更小的结构。该GaN半导体激光器件(50)包括设置在多层结构上的p侧和n侧电极,并具有与蓝宝石衬底上制造的传统GaN半导体激光器件相同的结构,除了用GaN单晶衬底(52)取代蓝宝石衬底且GaN化合物半导体层的多层结构直接形成在GaN单晶衬底(52)上而未形成GaN-ELO结构层之外。GaN单晶衬底(52)具有每个均具有10μm的宽度的连续带状核部分(52a),核部分(52)之间的距离约400μm。激光带(30)、p侧电极(36)的金属焊垫(37)、以及n侧电极(38)设置在除核部分(52a)之外的区域上的多层结构上。金属焊垫(37)的侧边缘与核部分的边缘之间的水平距离Sp和n侧电极(38)与核部分(52a)的边缘之间的水平距离Sn都为95μm。 |
申请日期 | 2003-06-19 |
专利号 | CN100440656C |
专利状态 | 授权 |
申请号 | CN03819204.7 |
公开(公告)号 | CN100440656C |
IPC 分类号 | H01S5/343 | H01L33/00 | H01L33/06 | H01L33/14 | H01L33/32 | H01L33/36 | H01L33/44 | H01S5/02 | H01S5/323 |
专利代理人 | 李晓舒 | 魏晓刚 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48937 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 索尼株式会社 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 后藤修,松本治,佐佐木智美,等. GaN基半导体器件. CN100440656C[P]. 2008-12-03. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN100440656C.PDF(1254KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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