Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 基于图像监测微颗粒形状与散射的装置 | |
| 其他题名 | 基于图像监测微颗粒形状与散射的装置 |
| 邵士勇; 姚永帮; 饶瑞中 | |
| 2010-12-29 | |
| 专利权人 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 2010-12-29 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 授权发明 |
| 摘要 | 本发明公开了一种基于图像监测微颗粒形状与散射的装置。在内表面经过粗糙化和发黑处理的散射腔体上，顶部与底部分别设置微颗粒流进样管与出气管，在散射腔体的水平方向的径向面上每间隔90°安装半导体激光器和三个可调节显微镜，散射腔有规律的分布有40个指向腔心的方位角与极角光纤插孔，光纤插孔内安装有采样光纤，从40个方位角全面检测微颗粒散射信号，利用显微镜放大CCD摄像技术筛选出通过光束的单颗微粒，对颗粒形状进行快速统计分类，总结已有散射理论的适用条件，并使反演理论得到修正。 |
| 其他摘要 | 本发明公开了一种基于图像监测微颗粒形状与散射的装置。在内表面经过粗糙化和发黑处理的散射腔体上，顶部与底部分别设置微颗粒流进样管与出气管，在散射腔体的水平方向的径向面上每间隔90°安装半导体激光器和三个可调节显微镜，散射腔有规律的分布有40个指向腔心的方位角与极角光纤插孔，光纤插孔内安装有采样光纤，从40个方位角全面检测微颗粒散射信号，利用显微镜放大CCD摄像技术筛选出通过光束的单颗微粒，对颗粒形状进行快速统计分类，总结已有散射理论的适用条件，并使反演理论得到修正。 |
| 申请日期 | 2007-06-28 |
| 专利号 | CN101082562B |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | CN200710023960.X |
| 公开（公告）号 | CN101082562B |
| IPC 分类号 | G01N15/10 | G01N21/53 |
| 专利代理人 | 余成俊 |
| 代理机构 | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48454 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 邵士勇,姚永帮,饶瑞中. 基于图像监测微颗粒形状与散射的装置. CN101082562B[P]. 2010-12-29. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN101082562B.PDF（482KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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