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一种能提高电隔离能力的脊波导芯片结构及制作方法
其他题名一种能提高电隔离能力的脊波导芯片结构及制作方法
唐祖荣; 周勇; 陈文胜; 段利华; 吴天伟; 田坤
2017-02-15
专利权人中国电子科技集团公司第四十四研究所
公开日期2017-02-15
授权国家中国
专利类型授权发明
摘要本发明提供一种能提高电隔离能力的脊波导芯片结构,包括在N型衬底上顺序层叠的N型缓冲层、N型下限制层、下波导层、有源层、上波导层、P型上限制层、P型高掺杂层和N型隔离层,所述N型隔离层和P型高掺杂层上设有电流注入窗口,所述电流注入窗口设有在所述P型高掺杂层和P型上限制层中行进的脊波导,所述脊波导包括脊形台面和沟槽,所述有源层的发光窗口位于所述电流注入窗口下,除所述电流注入窗口下的有源层发光窗口对应的脊形台面外,剩余面均设有SiO2隔离膜。本发明还提供一种前述脊波导芯片结构的制作方法。本发明能有效改善芯片的电流限制能力,增强器件的电隔离能力,同时减少SiO2隔离膜的厚度,降低后工序的工艺难度。
其他摘要本发明提供一种能提高电隔离能力的脊波导芯片结构,包括在N型衬底上顺序层叠的N型缓冲层、N型下限制层、下波导层、有源层、上波导层、P型上限制层、P型高掺杂层和N型隔离层,所述N型隔离层和P型高掺杂层上设有电流注入窗口,所述电流注入窗口设有在所述P型高掺杂层和P型上限制层中行进的脊波导,所述脊波导包括脊形台面和沟槽,所述有源层的发光窗口位于所述电流注入窗口下,除所述电流注入窗口下的有源层发光窗口对应的脊形台面外,剩余面均设有SiO2隔离膜。本发明还提供一种前述脊波导芯片结构的制作方法。本发明能有效改善芯片的电流限制能力,增强器件的电隔离能力,同时减少SiO2隔离膜的厚度,降低后工序的工艺难度。
申请日期2014-10-10
专利号CN104242056B
专利状态授权
申请号CN201410531269.2
公开(公告)号CN104242056B
IPC 分类号H01S5/32
专利代理人刘佳
代理机构北京一格知识产权代理事务所(普通合伙)
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48060
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国电子科技集团公司第四十四研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
唐祖荣,周勇,陈文胜,等. 一种能提高电隔离能力的脊波导芯片结构及制作方法. CN104242056B[P]. 2017-02-15.
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