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氮化物半导体器件制造方法
其他题名氮化物半导体器件制造方法
木户口勋; 石桥明彦; 粂雅博; 伴雄三郎; 上山智
2004-10-06
专利权人松下电器产业株式会社
公开日期2004-10-06
授权国家中国
专利类型授权发明
摘要首先,将衬底温度升高到1020℃,在由蓝宝石构成的衬底(11)上顺序生长由n型Al0.1Ga0.9N组成的n型包层(14)、由n型GaN组成的n型光波导层(15)、及由n型Al0.2Ga0.8N组成的、抑制n型光波导层(15)构成原子的再蒸发的平坦性维持层(16)。接着,停止III族原料气体供给,将衬底温度降低到780℃,与此同时将运载气体由氢气更换为氮气,然后选择性导入V族源NH3、III族源TMI和TMG生长具有多量子阱结构的有源层(17)。
其他摘要首先,将衬底温度升高到1020℃,在由蓝宝石构成的衬底(11)上顺序生长由n型Al0.1Ga0.9N组成的n型包层(14)、由n型GaN组成的n型光波导层(15)、及由n型Al0.2Ga0.8N组成的、抑制n型光波导层(15)构成原子的再蒸发的平坦性维持层(16)。接着,停止III族原料气体供给,将衬底温度降低到780℃,与此同时将运载气体由氢气更换为氮气,然后选择性导入V族源NH3、III族源TMI和TMG生长具有多量子阱结构的有源层(17)。
申请日期1999-09-16
专利号CN1170347C
专利状态失效
申请号CN99810355.1
公开(公告)号CN1170347C
IPC 分类号H01L21/20 | H01L33/06 | H01L33/32 | H01S5/00 | H01S5/323 | H01S5/343 | H01S5/30 | H01L33/00 | C30B25/14 | H01L21/205
专利代理人汪惠民
代理机构中科专利商标代理有限责任公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/47907
专题半导体激光器专利数据库
作者单位松下电器产业株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
木户口勋,石桥明彦,粂雅博,等. 氮化物半导体器件制造方法. CN1170347C[P]. 2004-10-06.
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