用于测量测量气体中的气体成分浓度的方法和激光光谱仪

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	用于测量测量气体中的气体成分浓度的方法和激光光谱仪
其他题名	用于测量测量气体中的气体成分浓度的方法和激光光谱仪
	托马斯·汉凯维奇; 皮奥特尔·施特劳赫
	2015-12-02
专利权人	西门子公司
公开日期	2015-12-02
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	为了测量测量气体中的气体成分的浓度，在辐照测量气体和参考气体之后探测可调谐波长的激光二极管的光的强度，并且根据由在气体成分的所选择的吸收曲线的位置(iabs，λabs)上的光吸收引起的光强度的降低来确定气体成分的浓度，其中气体成分的吸收曲线的位置(iabs，λabs)用参考气体的所选择的吸收曲线作为参考。在根据本发明的方法中或在根据本发明的激光光谱仪中，进行由要测量的气体成分的快速的浓度变化的实际的测量(周期的微扫描17’)和用于波长参考的、线锁和标准化的短的参考/标准化阶段(18’，19’，20’)组成的混合运行。实际的测量的持续时间确定为：保持测量条件恒定并且在参考/标准化阶段期间测量条件不发射偏差。
其他摘要	为了测量测量气体中的气体成分的浓度，在辐照测量气体和参考气体之后探测可调谐波长的激光二极管的光的强度，并且根据由在气体成分的所选择的吸收曲线的位置(iabs，λabs)上的光吸收引起的光强度的降低来确定气体成分的浓度，其中气体成分的吸收曲线的位置(iabs，λabs)用参考气体的所选择的吸收曲线作为参考。在根据本发明的方法中或在根据本发明的激光光谱仪中，进行由要测量的气体成分的快速的浓度变化的实际的测量(周期的微扫描17’)和用于波长参考的、线锁和标准化的短的参考/标准化阶段(18’，19’，20’)组成的混合运行。实际的测量的持续时间确定为：保持测量条件恒定并且在参考/标准化阶段期间测量条件不发射偏差。
主权项	一种用于测量测量气体(1)中的气体成分的浓度的方法，其中：在辐照所述测量气体(1)和参考气体(5)之后探测能调谐波长的激光二极管(3)的光(4)的强度(I)，并且根据由于在所述气体成分的所选择的吸收曲线的位置(iabs，λabs)上的所述光(4)的吸收造成的光强度(I)的降低来确定所述气体成分的所述浓度，其中所述气体成分的所述吸收曲线的所述位置(iabs，λabs)用所述参考气体的所选择的吸收曲线作为参考，并且其中 -所述激光二极管(3)周期地利用上升的和/或下降的第一电流信号(17’)来驱控，以便根据波长地在扫描范围中扫描所述气体成分的所述吸收曲线，所述扫描区域位于所述参考气体(5)的所述吸收曲线之外并且限制在所述气体成分的所述吸收曲线的紧邻的附近， -所述激光二极管(3)规律地利用上升的和/或下降的第二电流信号(18’)来驱控，以便根据波长地在扫描范围中扫描所述参考气体(5)的所述吸收曲线，所述扫描区域要么包含所述气体成分和所述参考气体(5)的这两个吸收曲线，要么位于所述气体成分的所述吸收曲线之外并且限制在所述参考气体(5)的所述吸收曲线的紧邻的附近， -所述激光二极管(3)规律地利用具有位于所述第一电流信号和所述第二电流信号(17’，18’)的数值范围之外的振幅的至少一个刷电流信号(19’，20’)来驱控，以便利用在至少一个所述刷电流信号(19’，20’)的位置处探测的强度(I)对在所述吸收曲线的所述位置(iabs，λabs)处探测的所述光强度(I)进行标准化，并且 -依次地产生所述第一电流信号(17’)，所述第二电流信号(18’)和所述刷电流信号(19’，20’)，使得单个或一些直接依次产生的所述第二电流信号(18’)和单个或一些直接依次产生的所述刷电流信号(19’，20’)与多个直接依次产生的所述第一电流信号(17’)交替。
申请日期	2013-02-19
专利号	CN104136897B
专利状态	授权
申请号	CN201380011102
公开（公告）号	CN104136897B
IPC 分类号	G01J3/10 \| G01J3/433 \| G01N33/00 \| G01N21/39
专利代理人	余刚 \| 李慧
代理机构	北京康信知识产权代理有限责任公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/46939
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西门子公司
推荐引用方式 GB/T 7714	托马斯·汉凯维奇,皮奥特尔·施特劳赫. 用于测量测量气体中的气体成分浓度的方法和激光光谱仪. CN104136897B[P]. 2015-12-02.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN104136897B.PDF（530KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文