非圆对称光束波面测量仪

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	非圆对称光束波面测量仪
其他题名	非圆对称光束波面测量仪
	万玲玉; 刘立人; 张明丽; 栾竹
	2006-06-14
专利权人	中国科学院上海光学精密机械研究所
公开日期	2006-06-14
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	一种非圆对称光束波面测量仪及其测量方法，其结构组成是：同轴地且依次设有小孔、透镜、CCD探测器，该小孔置于透镜的前焦面，该CCD探测器安装在一刻度滑轨上并可在该刻度滑轨上移动，该CCD探测器的探测面位于透镜的后焦面时，该CCD探测器的探测面处于刻度导轨上的零刻度位置，该CCD探测器通过信号线与计算机相连。本发明具有结构简单、操作便捷，可用于半导体激光器所发光束的波面测量，亦可对任意非圆对称光束进行二维波面测量。
其他摘要	一种非圆对称光束波面测量仪及其测量方法，其结构组成是：同轴地且依次设有小孔、透镜、CCD探测器，该小孔置于透镜的前焦面，该CCD探测器安装在一刻度滑轨上并可在该刻度滑轨上移动，该CCD探测器的探测面位于透镜的后焦面时，该CCD探测器的探测面处于刻度导轨上的零刻度位置，该CCD探测器通过信号线与计算机相连。本发明具有结构简单、操作便捷，可用于半导体激光器所发光束的波面测量，亦可对任意非圆对称光束进行二维波面测量。
主权项	一种非圆对称光束波面测量仪，其特征在于它的组成是：同轴地且依次设有小孔(02)、透镜(03)、CCD探测器(04)，该小孔(02)置于透镜(03)的前焦面，该CCD探测器(04)安装在一刻度滑轨(05)上并可在该刻度滑轨(05)上移动，该CCD探测器(04)的探测面位于透镜(03)的后焦面时，该CCD探测器(04)的探测面处于刻度导轨(05)上的零刻度位置，该CCD探测器(04)通过信号线与计算机(06)相连。
申请日期	2004-05-09
专利号	CN1259546C
专利状态	失效
申请号	CN200410018157.3
公开（公告）号	CN1259546C
IPC 分类号	G01B21/20 \| G01M11/02
专利代理人	张泽纯
代理机构	上海新天专利代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45568
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国科学院上海光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	万玲玉,刘立人,张明丽,等. 非圆对称光束波面测量仪. CN1259546C[P]. 2006-06-14.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN1259546C.PDF（425KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文