一种半导体激光器光强分布测试装置

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	一种半导体激光器光强分布测试装置
其他题名	一种半导体激光器光强分布测试装置
	刘兴胜; 王贞福; 吴迪
	2014-06-04
专利权人	西安炬光科技有限公司
公开日期	2014-06-04
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型提供一种半导体激光器光强分布测试装置，包括半导体激光器、旋转平移台以及设置于旋转平移台上的取样装置，取样装置的入光口面向半导体激光器的出光面，取样装置的出光口接有激光强度测量仪；以激光器发光面几何中心为原点，设过原点垂直于激光器发光面的法线方向为z轴，在垂直于z轴的平面上过原点的直线为扫描基准线，取样装置的扫描幅面垂直于扫描基准线；旋转平移台能够沿所述扫描基准线轴向移动，还能够以所述扫描基准线为轴旋转。本实用新型可以准确测试半导体激光器的远场光强分布，通过光强分布可以得到半导体激光器的光斑尺寸，远场发散角等信息。
其他摘要	本实用新型提供一种半导体激光器光强分布测试装置，包括半导体激光器、旋转平移台以及设置于旋转平移台上的取样装置，取样装置的入光口面向半导体激光器的出光面，取样装置的出光口接有激光强度测量仪；以激光器发光面几何中心为原点，设过原点垂直于激光器发光面的法线方向为z轴，在垂直于z轴的平面上过原点的直线为扫描基准线，取样装置的扫描幅面垂直于扫描基准线；旋转平移台能够沿所述扫描基准线轴向移动，还能够以所述扫描基准线为轴旋转。本实用新型可以准确测试半导体激光器的远场光强分布，通过光强分布可以得到半导体激光器的光斑尺寸，远场发散角等信息。
主权项	一种半导体激光器光强分布测试装置，包括半导体激光器、旋转平移台以及设置于旋转平移台上的取样装置，取样装置的入光口面向半导体激光器的出光面，取样装置的出光口接有激光强度测量仪；以激光器发光面几何中心为原点，设过原点垂直于激光器发光面的法线方向为z轴，在垂直于z轴的平面上过原点的直线为扫描基准线，取样装置的扫描幅面垂直于扫描基准线；所述旋转平移台能够沿所述扫描基准线轴向移动，还能够以所述扫描基准线为轴旋转。
申请日期	2013-10-24
专利号	CN203629679U
专利状态	失效
申请号	CN201320660867.0
公开（公告）号	CN203629679U
IPC 分类号	G01J1/42 \| G01M11/02
专利代理人	胡乐
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45435
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西安炬光科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	刘兴胜,王贞福,吴迪. 一种半导体激光器光强分布测试装置. CN203629679U[P]. 2014-06-04.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN203629679U.PDF（461KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文