激光测定硬管管厚的方法

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	激光测定硬管管厚的方法
其他题名	激光测定硬管管厚的方法
	张新发
	2001-05-09
专利权人	南亚塑胶工业股份有限公司
公开日期	2001-05-09
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	本发明是由激光固定架台、激光扫瞄器、激光控制器、操作箱组成；是利用激光扫瞄器内半导体激光光产生器将产生出的激光光透过马达旋转的多重镜面发射，再经瞄准透镜将激光光线发散射出，部分激光光线会被被测物遮挡，剩余的激光光线则于接收处，透过聚集透镜将光线聚集，经由光二极管将信号收集，经波形分割器将方波转换成“ＢＩ”及“ＬＯ”信号，再转换成硬管外径值显示于激光控制器上，其产生的信号送至操作箱内与控制电路比较，获取生产线束的修正信号，进行全线速度控制。
其他摘要	本发明是由激光固定架台、激光扫瞄器、激光控制器、操作箱组成；是利用激光扫瞄器内半导体激光光产生器将产生出的激光光透过马达旋转的多重镜面发射，再经瞄准透镜将激光光线发散射出，部分激光光线会被被测物遮挡，剩余的激光光线则于接收处，透过聚集透镜将光线聚集，经由光二极管将信号收集，经波形分割器将方波转换成“ＢＩ”及“ＬＯ”信号，再转换成硬管外径值显示于激光控制器上，其产生的信号送至操作箱内与控制电路比较，获取生产线束的修正信号，进行全线速度控制。
主权项	一种激光测定硬管管厚的控制方法，其特征在于其是利用激光控制系统中的激光扫瞄器内半导体激光产生器，将产生出来的激光通过马达旋转的多重镜面发射，再经由瞄准透镜将激光光线发散射出，部份激光光线会被被测物遮挡，剩余的激光光线则于接收处，通过聚集透镜将光线聚集，经由光二极管将信号收集，最后经波形分割器将方波转换成“HI”及“LO”信号，取该“HI”及“LO”信号计数值，转换成硬管外径值显示于激光控制器上，并将产生的信号送至操作箱内与控制电路比较，获取生产线速的修正信号，进行全线速度控制；再将激光控制器管径设定值与经激光扫瞄器取得的实际值作比较，取其偏差值，将该偏差值通过比例、积分、微分转换控制器，该值再与主机速度信号作加法修正，驱动引取机速度的快慢，以达到控制硬管管厚功能；激光扫瞄器安装于激光固定架台机构上，连续生产的硬管经过该激光扫瞄器间，借由发射器发射的激光光束，受到连续生产硬管遮挡后，在接收器处接收到激光光束剩余量，取工业用微量变动信号经转换器处理后，最终获得量值，该信号再与全线生产速度信号作加法器比较，获得全线生产速度信号，以进行生产线速度升降变动控制管厚；由激光扫瞄器取得硬管管径变动信号，经激光控制器转换为厚度信号，再通过电压转电流转换器将信号转为厚度信号，未经处理的波动信号通过比例、积分、微分转换控制器处理取得厚度信号，再经由电流转电压转换器转换为厚度信号，经加法器处理的全线生产速度信号修正全线生产速度，进而控制硬管管厚；通过操作箱装置可直接操作引取机启动停止及速度调整，并可直接由操作面板上的激光控制器得知欲量测的硬管管径，并可经面板选择手动及自动功能，选择是否欲作测厚控制。
申请日期	1997-08-18
专利号	CN1065638C
专利状态	失效
申请号	CN97116378.2
公开（公告）号	CN1065638C
IPC 分类号	G01B11/08 \| G05D5/02
专利代理人	寿宁
代理机构	中原信达知识产权代理有限责任公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45419
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	南亚塑胶工业股份有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	张新发. 激光测定硬管管厚的方法. CN1065638C[P]. 2001-05-09.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN1065638C.PDF（666KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文