一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置

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	一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置
其他题名	一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置
	王林; 袁操今; 冯少彤; 李重光; 赵应春; 张秀英
	2014-09-03
专利权人	昆明理工大学
公开日期	2014-09-03
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型涉及一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置，属于干涉仪设备领域。本实用新型包括半导体激光器、显微物镜空间滤波器、准直透镜、分光棱镜Ⅰ、平面反射镜、分光棱镜Ⅱ、空间光调制器、分光棱镜Ⅲ、分光棱镜Ⅳ以及光电耦合器件。本实用新型只需要简单的实验器材如激光器、分光棱镜和平面反射镜及光电耦合器件就能对涡旋光束的拓扑电荷数进行测定，对实验条件和器材没有特殊要求，解决了目前需要一些特殊器材如Dove棱镜，多孔干涉仪，角向干涉仪，弱随机散射屏等不常见的器材或设备的问题。
其他摘要	本实用新型涉及一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置，属于干涉仪设备领域。本实用新型包括半导体激光器、显微物镜空间滤波器、准直透镜、分光棱镜Ⅰ、平面反射镜、分光棱镜Ⅱ、空间光调制器、分光棱镜Ⅲ、分光棱镜Ⅳ以及光电耦合器件。本实用新型只需要简单的实验器材如激光器、分光棱镜和平面反射镜及光电耦合器件就能对涡旋光束的拓扑电荷数进行测定，对实验条件和器材没有特殊要求，解决了目前需要一些特殊器材如Dove棱镜，多孔干涉仪，角向干涉仪，弱随机散射屏等不常见的器材或设备的问题。
主权项	一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置，其特征在于：包括半导体激光器（1）、显微物镜空间滤波器（2）、准直透镜（3）、分光棱镜Ⅰ（4）、平面反射镜（5）、分光棱镜Ⅱ（6）、空间光调制器（7）、分光棱镜Ⅲ（8）、分光棱镜Ⅳ（9）以及光电耦合器件（10）；其中半导体激光器（1）距显微物镜空间滤波器（2）为0.15m-0.2m，准直透镜（3）的前焦面恰好位于显微物镜空间滤波器（2）的出瞳位置，分光棱镜Ⅰ（4）距准直透镜（3）为0.08m-0.15m，分光棱镜Ⅰ（4）与分光棱镜Ⅱ（6）在同一条水平线上，分光棱镜Ⅰ（4）与分光棱镜Ⅲ（8）在同一条垂直线上，分光棱镜Ⅲ（8）与分光棱镜Ⅳ（9）在同一条水平线上，分光棱镜Ⅱ（6）与分光棱镜Ⅳ（9）在同一条垂直线上，分光棱镜Ⅰ（4）、分光棱镜Ⅱ（6）、分光棱镜Ⅲ（8）和分光棱镜Ⅳ（9）在光学平台上构成一个矩形光路，平面反射镜（5）在分光棱镜Ⅱ（6）垂直向上方向的距离为0.03m-0.05m，空间光调制器（7）在分光棱镜Ⅲ（8）水平向左方向的距离为0.03m-0.05m，光电耦合器件（10）在分光棱镜Ⅳ（9）水平向右方向的距离为0.1m-0.15m。
申请日期	2014-04-10
专利号	CN203811282U
专利状态	失效
申请号	CN201420170192.6
公开（公告）号	CN203811282U
IPC 分类号	G01J11/00 \| G01J9/02
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45010
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	昆明理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	王林,袁操今,冯少彤,等. 一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置. CN203811282U[P]. 2014-09-03.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN203811282U.PDF（344KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文