一种提高腔体衰荡时间测量精度的方法

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	一种提高腔体衰荡时间测量精度的方法
其他题名	一种提高腔体衰荡时间测量精度的方法
	朱小明; 王晓东; 李丙玉; 颜昌翔
	2017-01-18
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2017-01-18
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	本发明涉及一种提高腔体衰荡时间测量精度的方法，包括以下步骤：开启激光器，并通过波长反馈调节系统将波长锁定到待测气体的特征吸收谱线范围内；调整谐振腔长度，并监测探测器输出信号幅度，直到探测器输出信号幅度达到设定的上阈值，停止调整腔长，并关闭激光器；当探测器输出信号幅度再次为设定上阈值时，计时开始；当探测器输出信号幅度达到设定下阈值时，计时终止；计算空腔自由衰荡时间常数；抽入待测气体，重复上述步骤，获得含有待测气体的自由衰荡时间常数；根据测得的空腔和含有待测气体的自由衰荡时间常数等数据，计算腔内气体浓度。本发明使用电流快速关断半导体激光器，减轻了拖尾现象对测量数据的影响。
其他摘要	本发明涉及一种提高腔体衰荡时间测量精度的方法，包括以下步骤：开启激光器，并通过波长反馈调节系统将波长锁定到待测气体的特征吸收谱线范围内；调整谐振腔长度，并监测探测器输出信号幅度，直到探测器输出信号幅度达到设定的上阈值，停止调整腔长，并关闭激光器；当探测器输出信号幅度再次为设定上阈值时，计时开始；当探测器输出信号幅度达到设定下阈值时，计时终止；计算空腔自由衰荡时间常数；抽入待测气体，重复上述步骤，获得含有待测气体的自由衰荡时间常数；根据测得的空腔和含有待测气体的自由衰荡时间常数等数据，计算腔内气体浓度。本发明使用电流快速关断半导体激光器，减轻了拖尾现象对测量数据的影响。
主权项	一种提高腔体衰荡时间测量精度的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、开启激光器，并通过波长反馈调节系统将波长锁定到待测气体的特征吸收谱线范围内；步骤二、调整谐振腔长度，并监测探测器输出信号幅度；步骤三、重复步骤二，直到探测器输出信号幅度达到设定的上阈值，停止调整腔长，并关闭激光器；步骤四、谐振腔不再有能量输入，进入自由衰荡阶段，能量逐渐衰减，当探测器输出信号幅度再次为设定上阈值时，计时开始；步骤五、自由衰荡继续进行，能量进一步衰减，当探测器输出信号幅度达到设定下阈值时，计时终止，认为衰荡结束；步骤六、计算空腔自由衰荡时间常数。
申请日期	2014-12-17
专利号	CN104515742B
专利状态	授权
申请号	CN201410789135.0
公开（公告）号	CN104515742B
IPC 分类号	G01N21/31
专利代理人	张伟
代理机构	长春菁华专利商标代理事务所
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/44740
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	朱小明,王晓东,李丙玉,等. 一种提高腔体衰荡时间测量精度的方法. CN104515742B[P]. 2017-01-18.

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CN104515742B.PDF（111KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文