Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
光電子集積回路の製造方法 | |
其他题名 | 光電子集積回路の製造方法 |
寺門 知二 | |
1994-02-16 | |
专利权人 | NIPPON ELECTRIC CO |
公开日期 | 1994-02-16 |
授权国家 | 日本 |
专利类型 | 授权发明 |
摘要 | PURPOSE:To improve the performance and reproducibility by a method wherein, after coating step difference regions with thick film resist, electrode patterns of a transistor are formed using a thin film resist. CONSTITUTION:A PIN photodiode 2 formed on the lower step part of a substrate 1 having a step difference and a field effect transistor 3 formed on the upper step part of the substrate 1 are monolithically integrated and after coating the step difference parts with a thick film resist 7, electrodes 12-14 of the transistor 3 are formed by the photolithography using a thin film resist 18. Through these procedures, fine electrodes can be manufactured in high reproducibily so that high performance optoelectronic integrated circuits may be manufactured in high reproducibility. |
其他摘要 | 用途:为了通过一种方法改善性能和再现性,其中在用厚膜抗蚀剂涂覆台阶差区域之后,使用薄膜抗蚀剂形成晶体管的电极图案。组成:形成在具有台阶差的基板1的下台阶部分上的PIN光电二极管2和形成在基板1的上台阶部分上的场效应晶体管3是单片集成的,并且在用厚膜涂覆台阶差部件之后通过使用薄膜抗蚀剂18的光刻法形成晶体管3的电极12-14,通过这些步骤,可以高再现性地制造精细电极,从而可以以高再现性制造高性能光电集成电路。 |
主权项 | - |
申请日期 | 1987-10-28 |
专利号 | JP1994012809B2 |
专利状态 | 失效 |
申请号 | JP1987274049 |
公开(公告)号 | JP1994012809B2 |
IPC 分类号 | H01S | H01L29/66 | H01L | H01L29/80 | H01L27/095 | H01L27/12 | H01L27/14 | H01L31/12 | H01S5/00 | H01S5/026 |
专利代理人 | 本庄 伸介 |
代理机构 | - |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/44645 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | NIPPON ELECTRIC CO |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 寺門 知二. 光電子集積回路の製造方法. JP1994012809B2[P]. 1994-02-16. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
JP1994012809B2.PDF(16KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
个性服务 |
推荐该条目 |
保存到收藏夹 |
查看访问统计 |
导出为Endnote文件 |
谷歌学术 |
谷歌学术中相似的文章 |
[寺門 知二]的文章 |
百度学术 |
百度学术中相似的文章 |
[寺門 知二]的文章 |
必应学术 |
必应学术中相似的文章 |
[寺門 知二]的文章 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论