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Manufacture of semiconductor element
其他题名Manufacture of semiconductor element
MIYAZAWA SEIICHI; OTSUKA MITSURU
专利权人CANON INC
公开日期1988-04-14
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要PURPOSE:To form a fine P-N region by a simple process by forming steps on a substrate, and constructing to control the conductivity type of a semiconductor layer to be formed on the substrate. CONSTITUTION:Projections are first formed by etching in a reverse mesa direction on an N-type GaAs substrate 22. Then, an Si-doped GaAs layer 23 is laminated thereon. As a result, a P-type layer is grown on a part designated by shaded parts on an oblique surfaces, and an N-type GaAs is grown on the other part. An N-type GaAs layer 24 is further formed thereon, and electrodes 25, 26 are eventually formed. When a voltage is applied between the electrodes 25, 26 in a static induction type transistor manufactured in this manner, a current flows to the channel of the layer 23, and a depleted layer is extended to the respective layers according to the p-type part of the layer 23 and the carrier concentration of the layer 22. Among them, the layer 22 of lower concentration is largely extended at the depleted layer, and a current 29 is controlled by varying the extension of the depleted layer of the layer 22 by a voltage to be applied to the layer 23.
其他摘要目的:通过在基板上形成台阶,通过简单的工艺形成精细的P-N区域,并构造以控制在基板上形成的半导体层的导电类型。组成:首先通过在N型GaAs衬底22上以反向台面方向蚀刻来形成凸起。然后,在其上层叠Si掺杂的GaAs层23。结果,在倾斜表面上由阴影部分指定的部分上生长P型层,在另一部分上生长N型GaAs。在其上进一步形成N型GaAs层24,并最终形成电极25,26。当以这种方式制造的静电感应型晶体管中的电极25,26之间施加电压时,电流流到层23的沟道,并且耗尽层根据p型部分延伸到各层。其中,较低浓度的层22在耗尽层处大部分延伸,并且通过改变层22的耗尽层的延伸来控制电流29,其中,层22的层22和层22的载流子浓度。施加到层23的电压。
申请日期1986-09-26
专利号JP1988084015A
专利状态失效
申请号JP1986229085
公开(公告)号JP1988084015A
IPC 分类号H01L21/20 | H01L21/76 | H01L27/095 | H01L29/80 | H01S5/00 | H01S5/042 | H01S3/18
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/43900
专题半导体激光器专利数据库
作者单位CANON INC
推荐引用方式
GB/T 7714
MIYAZAWA SEIICHI,OTSUKA MITSURU. Manufacture of semiconductor element. JP1988084015A.
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