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電界吸収型半導体光変調器
其他题名電界吸収型半導体光変調器
中村 真嗣; 上山 智; 松井 康
1999-11-19
专利权人松下電器産業株式会社
公开日期2000-01-31
授权国家日本
专利类型授权发明
摘要【課題】 電界吸収型半導体光変調器の印加電圧-消光比特性の非線形性歪を低減する。 【解決手段】 MQW層34は、PL波長51μm、厚さ7nmのInGaAsPよりなる第1の井戸層45、PL波長15μm、厚さ10nmの第1の障壁層46、PL波長41μm、厚さ9nmのInGaAsPよりなる第2の井戸層47、PL波長19μm、厚さ8nmの第2の障壁層48が順次組み合わされてなる。MQW層34の両側には、2段SCH構造を構成するPL波長05μm、厚さ50nmのInGaAsPよりなる第1の光導波層41とPL波長15μm、厚さ20nmのInGaAsPよりなる第2の光導波層42、及び第2の光導波層42と同じ組成で同じ厚さの第3の光導波層43と第1の光導波層41と同じ組成で同じ厚さの第4の光導波層44がそれぞれ形成されている。
其他摘要目的:降低电场吸收型半导体光调制器的外加电压 - 消光比特性的非线性应变。组成:MQW层34由连续组合第一阱层45和第二阱层构成,第一阱层45由PL波长为51μm,厚度为7nm的InGaAsP组成,第一阻挡层46的PL波长为15μm,厚度为10nm。47由PL波长为41μm,厚度为9nm的InGaAsP和PL波长为19μm,厚度为8nm的第二阻挡层48组成。构成第二级SCH结构的第一光波导层41,由PL波长为05μm,厚度为50nm的InGaAsP,由PL波长为15μm,厚度为20nm的InGaAsP构成的第二光波导层42,第三光波导构成层43由相同的组成。作为compsn。第二光波导层42具有相同的厚度,第四光波导层44由相同的组成。在MQW层34的两侧分别形成第一光波导层41并具有相同的厚度。
授权日期1999-11-19
申请日期1996-02-14
专利号JP3004902B2
专利状态失效
申请号JP1996026367
公开(公告)号JP3004902B2
IPC 分类号G02F1/015 | G02F1/017 | H01S5/06 | H01S | G02F | G02F1/01 | G02F1/025 | H01S5/00
专利代理人前田 弘 (外1名)
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41956
专题半导体激光器专利数据库
作者单位松下電器産業株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
中村 真嗣,上山 智,松井 康. 電界吸収型半導体光変調器. JP3004902B2[P]. 1999-11-19.
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