用于老化及测试的夹具

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	用于老化及测试的夹具
其他题名	用于老化及测试的夹具
	文少剑; 刘猛; 黄海翔
	2018-09-04
专利权人	深圳市杰普特光电股份有限公司
公开日期	2018-09-04
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	一种用于老化及测试的夹具，包括底座、设置在底座上的承载片、安装在底座上的固定架、安装在固定架上的第一电极块、及第二电极块；承载片上设有工位槽；底座上设有定位销，承载片上设有与定位销对应的片侧限位孔，固定架上设有与定位销对应的架侧限位孔；承载片通过片侧限位孔穿设在定位销上，固定架通过架侧限位孔穿设在定位销上，且第一电极块及第二电极块的一端与工位槽对应设置。本实用新型的用于老化及测试的夹具通过第一电极块的一端及第二电极块的一端的下表面可分别与半导体激光器芯片上表面的两侧准确连接，且增大了与半导体激光器芯片表面的接触面积，避免了脉冲电流的产生，同时有利于半导体激光器芯片在老化及测试过程中的散热。
其他摘要	一种用于老化及测试的夹具，包括底座、设置在底座上的承载片、安装在底座上的固定架、安装在固定架上的第一电极块、及第二电极块；承载片上设有工位槽；底座上设有定位销，承载片上设有与定位销对应的片侧限位孔，固定架上设有与定位销对应的架侧限位孔；承载片通过片侧限位孔穿设在定位销上，固定架通过架侧限位孔穿设在定位销上，且第一电极块及第二电极块的一端与工位槽对应设置。本实用新型的用于老化及测试的夹具通过第一电极块的一端及第二电极块的一端的下表面可分别与半导体激光器芯片上表面的两侧准确连接，且增大了与半导体激光器芯片表面的接触面积，避免了脉冲电流的产生，同时有利于半导体激光器芯片在老化及测试过程中的散热。
授权日期	2018-09-04
申请日期	2018-02-02
专利号	CN207817019U
专利状态	授权
申请号	CN201820204663.9
公开（公告）号	CN207817019U
IPC 分类号	G01R1/04
专利代理人	石佩
代理机构	广州华进联合专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41252
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	深圳市杰普特光电股份有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	文少剑,刘猛,黄海翔. 用于老化及测试的夹具. CN207817019U[P]. 2018-09-04.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN207817019U.PDF（530KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文