一种半导体激光器测试装置

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	一种半导体激光器测试装置
其他题名	一种半导体激光器测试装置
	王洪波; 赵克宁; 汤庆敏; 肖成峰; 郑兆河; 徐现刚
	2018-05-11
专利权人	山东华光光电子股份有限公司
公开日期	2018-05-11
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型一种半导体激光器测试装置，包括可旋转固定盘、测试插头、可伸缩旋转的支臂、拨插头、测试感应头，所述可旋转固定盘上设置有测试插头，所述可伸缩旋转的支臂上设置有所述拔插头，通过所述可旋转固定盘的旋转以及所述可伸缩旋转的支臂的伸缩、旋转，利用所述拔插头将需要测试的半导体激光器拔插到对应的所述测试插头上，所述测试感应头对对应位置的所述测试插头上的所述半导体激光器进行测试。本实用新型实现了半导体激光器的测试阶段的自动化的操作，当批量生产时，产品避免了手动操作而导致的误判，从而实现检测标准一致性的目标，也可以避免人工操作时，碰到产品而污染等现象。
其他摘要	本实用新型一种半导体激光器测试装置，包括可旋转固定盘、测试插头、可伸缩旋转的支臂、拨插头、测试感应头，所述可旋转固定盘上设置有测试插头，所述可伸缩旋转的支臂上设置有所述拔插头，通过所述可旋转固定盘的旋转以及所述可伸缩旋转的支臂的伸缩、旋转，利用所述拔插头将需要测试的半导体激光器拔插到对应的所述测试插头上，所述测试感应头对对应位置的所述测试插头上的所述半导体激光器进行测试。本实用新型实现了半导体激光器的测试阶段的自动化的操作，当批量生产时，产品避免了手动操作而导致的误判，从而实现检测标准一致性的目标，也可以避免人工操作时，碰到产品而污染等现象。
授权日期	2018-05-11
申请日期	2017-08-31
专利号	CN207351492U
专利状态	授权
申请号	CN201721110127.4
公开（公告）号	CN207351492U
IPC 分类号	G01D21/02
专利代理人	杨树云
代理机构	济南金迪知识产权代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40817
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	山东华光光电子股份有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	王洪波,赵克宁,汤庆敏,等. 一种半导体激光器测试装置. CN207351492U[P]. 2018-05-11.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN207351492U.PDF（333KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文