Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
一种基于电光调制器的光脉冲整形装置 | |
其他题名 | 一种基于电光调制器的光脉冲整形装置 |
赵灏; 张新立; 韦佳天; 吕宏伟; 谢征; 陈峰; 吴国锋; 刘志强; 覃波; 王建军; 许党朋 | |
2017-01-11 | |
专利权人 | 中国电子科技集团公司第三十四研究所 |
公开日期 | 2017-01-11 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 实用新型 |
摘要 | 本实用新型为一种基于电光调制器的光脉冲整形装置,本装置电光调制器连接的分束器将调制后的信号光分为2束,占比较大的光束为输出,占比较小的光束为监测光,接入光电探测器,再经放大器和模数转换单元接入微处理器,微处理器的控制信号接射频驱动器和数模转换单元,后二者接入电光调制器。使用时微处理器遍历各偏置电压,最小的监测光光强度采样值AD0对应最佳偏置电压值V0。V0送入光电探测器,实时比较当前监测光光强度采样值ADi与AD0。二者差达阈值时,对偏置电压进行修正。本实用新型实时调整电光调制器的偏置电压,有效克服漂移影响,输出高对比度任意整形光脉冲,工作稳定,整形精度高。 |
其他摘要 | 本实用新型为一种基于电光调制器的光脉冲整形装置,本装置电光调制器连接的分束器将调制后的信号光分为2束,占比较大的光束为输出,占比较小的光束为监测光,接入光电探测器,再经放大器和模数转换单元接入微处理器,微处理器的控制信号接射频驱动器和数模转换单元,后二者接入电光调制器。使用时微处理器遍历各偏置电压,最小的监测光光强度采样值AD0对应最佳偏置电压值V0。V0送入光电探测器,实时比较当前监测光光强度采样值ADi与AD0。二者差达阈值时,对偏置电压进行修正。本实用新型实时调整电光调制器的偏置电压,有效克服漂移影响,输出高对比度任意整形光脉冲,工作稳定,整形精度高。 |
授权日期 | 2017-01-11 |
申请日期 | 2016-03-15 |
专利号 | CN205880413U |
专利状态 | 授权 |
申请号 | CN201620197218.5 |
公开(公告)号 | CN205880413U |
IPC 分类号 | G02F1/03 | G02B27/09 | G02B27/10 |
专利代理人 | 欧阳波 |
代理机构 | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/39640 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 中国电子科技集团公司第三十四研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵灏,张新立,韦佳天,等. 一种基于电光调制器的光脉冲整形装置. CN205880413U[P]. 2017-01-11. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN205880413U.PDF(114KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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