Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
Method for manufacturing group III nitride compound semiconductor laser diodes | |
其他题名 | Method for manufacturing group III nitride compound semiconductor laser diodes |
YAMASAKI, SHIRO; NAGAI, SEIJI; KOIKE, MASAYOSHI; AKASAKI, ISAMU; AMANO, HIROSHI; YAMADA, ISAO; MATSUO, JIRO | |
2002-11-26 | |
专利权人 | TOYOTA GOSEI CO., LTD |
公开日期 | 2002-11-26 |
授权国家 | 美国 |
专利类型 | 授权发明 |
摘要 | A method for manufacturing a laser diode using Group III nitride compound semiconductor comprising a buffer layer 2, an n+ layer 3, a cladding layer 4, an active layer 5, a p-type cladding layer 61, a contact layer 62, an SiO2 layer 9, an electrode 7 which is formed on the window formed in a portion of the SiO2 layer 9, and an electrode 8 which is formed on a portion of the n+ layer 3 by etching a portion of 4 layers from the contact layer 62 down to the cladding layer 4. One pair of opposite facets S of a cavity is formed by RIBE, and then the facets are etched by gas cluster ion beam etching using Ar gas. As a result, the facets S are flatted and the mirror reflection of the facets S is improved. |
其他摘要 | 一种使用III族氮化物化合物半导体制造激光二极管的方法,包括缓冲层2,n +层3,包层4,有源层5,p型包层61,接触层62,SiO2层如图9所示,电极7形成在形成于SiO2层9的一部分的窗口上,电极8形成在n +层3的一部分上,通过从接触层62蚀刻4层的一部分直至通过RIBE形成腔的一对相对的刻面S,然后通过使用Ar气体的气体簇离子束刻蚀来刻蚀刻面。结果,刻面S变平并且刻面S的镜面反射得到改善。 |
授权日期 | 2002-11-26 |
申请日期 | 1998-01-08 |
专利号 | US6486068 |
专利状态 | 失效 |
申请号 | US09/004608 |
公开(公告)号 | US6486068 |
IPC 分类号 | H01S5/02 | H01S5/00 | H01S5/323 | H01L21/302 |
专利代理人 | - |
代理机构 | PILLSBURY WINTHROP LLP |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/39479 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | TOYOTA GOSEI CO., LTD |
推荐引用方式 GB/T 7714 | YAMASAKI, SHIRO,NAGAI, SEIJI,KOIKE, MASAYOSHI,et al. Method for manufacturing group III nitride compound semiconductor laser diodes. US6486068[P]. 2002-11-26. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
US6486068.PDF(148KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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