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一种高精度大范围测量光纤长度的方法和设备
其他题名一种高精度大范围测量光纤长度的方法和设备
何赛灵; 周斌; 管祖光; 夏天豪
2010-12-22
专利权人浙江大学
公开日期2010-12-22
授权国家中国
专利类型授权发明
摘要本发明涉及一种高精度大范围测量光纤长度的方法和设备。声光调制器接入萨尼亚克环中,声光调制器在萨尼亚克环中是不对称放置的;待测长度光纤的一端通过一个三端口3-dB光纤耦合器与萨尼亚克环连接,另一端为自由端,可以发生端面反射;声光调制器由频率可变的射频信号驱动;射频信号频率改变时,萨尼亚克环的透射率改变,透射率的变化与待测段光纤的长度有关;由光电二极管检测透射率变化,光电二极管的输出端与数据采集卡连接,采集卡采集到的数据传到计算机。通过快速傅立叶变换以及相关运算得到待测段光纤的长度。本发明克服了不能同时满足高精度大范围测量的要求,并且相对成本较低。由于待测光纤连入萨尼亚克环中,设备抗外界温度波动以及机械扰动性能强。
其他摘要本发明涉及一种高精度大范围测量光纤长度的方法和设备。声光调制器接入萨尼亚克环中,声光调制器在萨尼亚克环中是不对称放置的;待测长度光纤的一端通过一个三端口3-dB光纤耦合器与萨尼亚克环连接,另一端为自由端,可以发生端面反射;声光调制器由频率可变的射频信号驱动;射频信号频率改变时,萨尼亚克环的透射率改变,透射率的变化与待测段光纤的长度有关;由光电二极管检测透射率变化,光电二极管的输出端与数据采集卡连接,采集卡采集到的数据传到计算机。通过快速傅立叶变换以及相关运算得到待测段光纤的长度。本发明克服了不能同时满足高精度大范围测量的要求,并且相对成本较低。由于待测光纤连入萨尼亚克环中,设备抗外界温度波动以及机械扰动性能强。
授权日期2010-12-22
申请日期2008-07-15
专利号CN101319878B
专利状态失效
申请号CN200810120024.5
公开(公告)号CN101319878B
IPC 分类号G01B11/02 | G02F1/35 | G02F2/02 | G02B6/28 | G02F1/03
专利代理人杜军
代理机构杭州求是专利事务所有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/39182
专题半导体激光器专利数据库
作者单位浙江大学
推荐引用方式
GB/T 7714
何赛灵,周斌,管祖光,等. 一种高精度大范围测量光纤长度的方法和设备. CN101319878B[P]. 2010-12-22.
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文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN101319878B.PDF(335KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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