Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
一种边射型半导体激光器芯片结构 | |
其他题名 | 一种边射型半导体激光器芯片结构 |
师宇晨; 王兴; 罗俊岗; 张西璐; 刘虎强; 刘晨; 赵小亮; 刘阿娟; 李登科; 席人杰; 李长超 | |
2019-08-09 | |
专利权人 | 陕西源杰半导体技术有限公司咸阳分公司 |
公开日期 | 2019-08-09 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 实用新型 |
摘要 | 一种边射型半导体激光器芯片结构,包括InGaAsP量子阱层、InP包覆层、金属接触层铟镓砷层和P型掺杂InP层;InGaAsP量子阱层的一端设置有InP包覆层生长面,InP包覆层生长面的上表面低于InGaAsP量子阱层的上表面;InP包覆层设置在InP包覆层生长面,InP包覆层的上表面与InGaAsP量子阱层上表面齐平;P型掺杂InP层设置在InGaAsP量子阱层和InP包覆层的上表面;金属接触层铟镓砷层设置在P型掺杂InP层的上表面。本实用新型在端面量子阱尖角结构处,由于量子阱区厚度被缩小,导致在这一区域量子阱对光的束缚能力减弱,从而达到减小激光器芯片的发散角的目的。 |
其他摘要 | 一种边射型半导体激光器芯片结构,包括InGaAsP量子阱层、InP包覆层、金属接触层铟镓砷层和P型掺杂InP层;InGaAsP量子阱层的一端设置有InP包覆层生长面,InP包覆层生长面的上表面低于InGaAsP量子阱层的上表面;InP包覆层设置在InP包覆层生长面,InP包覆层的上表面与InGaAsP量子阱层上表面齐平;P型掺杂InP层设置在InGaAsP量子阱层和InP包覆层的上表面;金属接触层铟镓砷层设置在P型掺杂InP层的上表面。本实用新型在端面量子阱尖角结构处,由于量子阱区厚度被缩小,导致在这一区域量子阱对光的束缚能力减弱,从而达到减小激光器芯片的发散角的目的。 |
授权日期 | 2019-08-09 |
申请日期 | 2019-01-21 |
专利号 | CN209233160U |
专利状态 | 授权 |
申请号 | CN201920099157.2 |
公开(公告)号 | CN209233160U |
IPC 分类号 | H01S5/343 | H01S5/06 |
专利代理人 | 徐文权 |
代理机构 | 西安通大专利代理有限责任公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38834 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 陕西源杰半导体技术有限公司咸阳分公司 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 师宇晨,王兴,罗俊岗,等. 一种边射型半导体激光器芯片结构. CN209233160U[P]. 2019-08-09. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN209233160U.PDF(394KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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