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Method of fabricating semiconductor laser
其他题名Method of fabricating semiconductor laser
FUJIHARA, KIYOSHI; ISHINO, MASATO; TAKENAKA, NAOKI
1993-07-13
专利权人MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.
公开日期1993-07-13
授权国家美国
专利类型授权发明
摘要An n-InP buffer layer 102, an InGaAsP active layer 103, a p-InP cladding layer 104 and a p-InGaAsP surface protective layer 105 are successively epitaxially grown on an n-InP substrate 101 having a (100) plane as a main plane. An etching mask 106, an insulating film, is formed in a stripe in the direction by photolithography and dry etching. Using a solution comprising a mixture of hydrochloric acid, oxygenated water and acetic acid, the n-InP buffer layer 102 is etched to a depth lower than the p-InP cladding layer 103, to form a mesa stripe 107. Next, the insulating film 106 is removed and the p-InGaAsP surface protective layer 105 is removed using a solution comprising a mixture of sulfuric acid and oxygenated water. Thereafter, InP current blocking layers 108 and 109 are selectively formed at the regions other than the mesa stripe 107 by the liquid-phase epitaxial growth. Thus, a buried heterostructure semiconductor laser is fabricated, having good laser characteristics and a high reliability.
其他摘要n-InP缓冲层102,InGaAsP有源层103,p-InP包层104和p-InGaAsP表面保护层105在具有(100)面作为主要的n-InP衬底101上连续外延生长平面。通过光刻和干法蚀刻在方向上以条纹形成蚀刻掩模106,即绝缘膜。使用包含盐酸,氧化水和乙酸的混合物的溶液,将n-InP缓冲层102蚀刻至低于p-InP包层103的深度,以形成台面条107.接下来,绝缘膜除去106并使用包含硫酸和含氧水的混合物的溶液除去p-InGaAsP表面保护层105。此后,通过液相外延生长在除台面条107之外的区域选择性地形成InP电流阻挡层108和109。因此,制造了掩埋异质结半导体激光器,其具有良好的激光特性和高可靠性。
授权日期1993-07-13
申请日期1991-07-25
专利号US5227015
专利状态失效
申请号US07/735728
公开(公告)号US5227015
IPC 分类号H01L21/306 | H01L21/02 | H01S5/00 | H01S5/227 | H01S5/323 | H01S5/20 | H01S5/12
专利代理人-
代理机构LOWE,PRICE,LEBLANC & BECKER
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38724
专题半导体激光器专利数据库
作者单位MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.
推荐引用方式
GB/T 7714
FUJIHARA, KIYOSHI,ISHINO, MASATO,TAKENAKA, NAOKI. Method of fabricating semiconductor laser. US5227015[P]. 1993-07-13.
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