一种半导体激光器的温度检测设备

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	一种半导体激光器的温度检测设备
其他题名	一种半导体激光器的温度检测设备
	刘增红; 常浩; 薛良
	2019-03-01
专利权人	拓闻(天津)电子科技有限公司
公开日期	2019-03-01
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型公开了一种半导体激光器的温度检测设备，包括待测激光器、驱动电源、温度调节器、光闸、积分球、衰减器、光谱分析仪、侧板、承接板、U型板、弹簧和检测台，所述检测台顶部固定连接有承接板，所述检测台顶部位于承接板一侧固定连接有驱动电源，所述检测台顶部位于承接板另一侧固定连接有温度调节器，所述承接板顶部对称设有U型板，所述承接板顶部设有待测激光器，且待测激光器两侧与相邻的U型板侧壁相接触，所述待测激光器分别与驱动电源和温度调节器电性连接，所述承接板顶部位于U型板远离待测激光器的一侧均对称开设有滑槽，该设备可以准确的检测出温度系数和波长系数，方便半导体激光器的检测。
其他摘要	本实用新型公开了一种半导体激光器的温度检测设备，包括待测激光器、驱动电源、温度调节器、光闸、积分球、衰减器、光谱分析仪、侧板、承接板、U型板、弹簧和检测台，所述检测台顶部固定连接有承接板，所述检测台顶部位于承接板一侧固定连接有驱动电源，所述检测台顶部位于承接板另一侧固定连接有温度调节器，所述承接板顶部对称设有U型板，所述承接板顶部设有待测激光器，且待测激光器两侧与相邻的U型板侧壁相接触，所述待测激光器分别与驱动电源和温度调节器电性连接，所述承接板顶部位于U型板远离待测激光器的一侧均对称开设有滑槽，该设备可以准确的检测出温度系数和波长系数，方便半导体激光器的检测。
授权日期	2019-03-01
申请日期	2018-08-13
专利号	CN208568243U
专利状态	授权
申请号	CN201821296072.5
公开（公告）号	CN208568243U
IPC 分类号	G01M11/02
专利代理人	姚艳
代理机构	北京沁优知识产权代理事务所(普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38254
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	拓闻(天津)电子科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	刘增红,常浩,薛良. 一种半导体激光器的温度检测设备. CN208568243U[P]. 2019-03-01.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN208568243U.PDF（456KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文