一种全方位多感测三维光学测头的测试系统

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	一种全方位多感测三维光学测头的测试系统
其他题名	一种全方位多感测三维光学测头的测试系统
	陈琳; 周惠忠; 夏瑞雪
	2019-02-12
专利权人	扬州工业职业技术学院
公开日期	2019-02-12
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型公开了一种全方位多感测三维光学测头的测试系统，包括利用显微物镜、LED照明光源、工业CCD相机、红外分光镜、镜筒透镜、一个以上的准直镜、分光镜、立面分光棱镜、分光光栅、半导体激光器LD、反射镜、柱面镜、四象限探测器、导光光纤、聚焦镜、二向色反射镜和二维位置敏感探测器PSD组成的测试模块，所述测试模块包括对物品进行形貌测量的二维显微成像测量模块、对物品进行Z轴方向高度测量的Z轴距离感测模块、对物品的X‑Y平面角度感测来实现空间位姿定位的X‑Y平面角度感测模块，X‑Y平面角度感测模块还与全方位视觉平台连接。本实用新型提高检测精度。
其他摘要	本实用新型公开了一种全方位多感测三维光学测头的测试系统，包括利用显微物镜、LED照明光源、工业CCD相机、红外分光镜、镜筒透镜、一个以上的准直镜、分光镜、立面分光棱镜、分光光栅、半导体激光器LD、反射镜、柱面镜、四象限探测器、导光光纤、聚焦镜、二向色反射镜和二维位置敏感探测器PSD组成的测试模块，所述测试模块包括对物品进行形貌测量的二维显微成像测量模块、对物品进行Z轴方向高度测量的Z轴距离感测模块、对物品的X‑Y平面角度感测来实现空间位姿定位的X‑Y平面角度感测模块，X‑Y平面角度感测模块还与全方位视觉平台连接。本实用新型提高检测精度。
授权日期	2019-02-12
申请日期	2018-06-09
专利号	CN208488071U
专利状态	授权
申请号	CN201820917256.2
公开（公告）号	CN208488071U
IPC 分类号	G01B11/245
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38185
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	扬州工业职业技术学院
推荐引用方式 GB/T 7714	陈琳,周惠忠,夏瑞雪. 一种全方位多感测三维光学测头的测试系统. CN208488071U[P]. 2019-02-12.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN208488071U.PDF（376KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文