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Hybrid beam deposition system and methods for fabricating metal oxide-ZnO films, p-type ZnO films, and ZnO-based II-VI compound semiconductor devices
其他题名Hybrid beam deposition system and methods for fabricating metal oxide-ZnO films, p-type ZnO films, and ZnO-based II-VI compound semiconductor devices
WHITE, HENRY W.; RYU, YUNGRYEL; LEE, TAE-SEOK
2010-11-02
专利权人MOXTRONICS, INC.
公开日期2010-11-02
授权国家美国
专利类型授权发明
摘要A hybrid beam deposition (HBD) system and methods according to the present invention utilizes a unique combination of pulsed laser deposition (PLD) technique and equipment with equipment and techniques that provide a radical oxygen rf-plasma stream to effectively increase the flux density of available reactive oxygen at a deposition substrate for the effective synthesis of metal oxide thin films. The HBD system and methods of the present invention further integrate molecular beam epitaxy (MBE) and/or chemical vapor deposition (CVD) techniques and equipment in combination with the PLD equipment and technique and the radical oxygen rf-plasma stream to provide elemental source materials for the synthesis of undoped and/or doped metal oxide thin films as well as the synthesis of undoped and/or doped metal-based oxide alloy thin films.
其他摘要根据本发明的混合束沉积(HBD)系统和方法利用脉冲激光沉积(PLD)技术和设备的独特组合以及提供自由氧rf-等离子体流以有效增加可用的通量密度的设备和技术。在沉积基底上的活性氧用于有效合成金属氧化物薄膜。本发明的HBD系统和方法进一步将分子束外延(MBE)和/或化学气相沉积(CVD)技术和设备与PLD设备和技术以及自由基氧rf-等离子体流结合以提供元素源材料。用于合成未掺杂和/或掺杂的金属氧化物薄膜以及合成未掺杂和/或掺杂的金属基氧化物合金薄膜。
授权日期2010-11-02
申请日期2003-08-27
专利号US7824955
专利状态失效
申请号US10/525611
公开(公告)号US7824955
IPC 分类号H01L21/00 | H01L21/16 | C30B23/08 | C23C14/00 | C23C14/08 | C23C14/28 | C30B23/02 | C30B25/02 | C30B25/10 | C30B29/16 | C30B35/00 | H01L21/205 | H01L21/265 | H01L21/363 | H01L21/443 | H01L29/205 | H01L29/267 | H01L31/04 | H01L33/00
专利代理人-
代理机构JACOBS & KIM LLP JACOBS, DAVID
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38173
专题半导体激光器专利数据库
作者单位MOXTRONICS, INC.
推荐引用方式
GB/T 7714
WHITE, HENRY W.,RYU, YUNGRYEL,LEE, TAE-SEOK. Hybrid beam deposition system and methods for fabricating metal oxide-ZnO films, p-type ZnO films, and ZnO-based II-VI compound semiconductor devices. US7824955[P]. 2010-11-02.
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