一种半导体激光器芯片检测装置

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	一种半导体激光器芯片检测装置
其他题名	一种半导体激光器芯片检测装置
	刘增红; 常浩; 薛良
	2019-02-01
专利权人	拓闻(天津)电子科技有限公司
公开日期	2019-02-01
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型公开了一种半导体激光器芯片检测装置，包括基座、转台、卡位、安装台、安装板、网络分析仪、支杆、变形杆、放大镜、卡板、探针、转动把手、环形锥齿条、环形滑轨、环形滑槽、固定架、扳动板、橡胶凸起和锥齿轮，所述基座内侧设有转台，且转台套设在安装台外侧，所述安装台底部与基座固定连接，所述基座内侧和转台内侧均开设有环形滑槽，所述转台外侧与安装台外侧均固定有环形滑轨，且转台通过环形滑轨和环形滑槽与基座和安装台转动连接，此半导体激光器芯片检测装置增加芯片检测的便捷度，改善检测环境，提高检测精确度，同时芯片位置的便捷更换，位置固定较方便，提高检测效率，适合大批量检测。
其他摘要	本实用新型公开了一种半导体激光器芯片检测装置，包括基座、转台、卡位、安装台、安装板、网络分析仪、支杆、变形杆、放大镜、卡板、探针、转动把手、环形锥齿条、环形滑轨、环形滑槽、固定架、扳动板、橡胶凸起和锥齿轮，所述基座内侧设有转台，且转台套设在安装台外侧，所述安装台底部与基座固定连接，所述基座内侧和转台内侧均开设有环形滑槽，所述转台外侧与安装台外侧均固定有环形滑轨，且转台通过环形滑轨和环形滑槽与基座和安装台转动连接，此半导体激光器芯片检测装置增加芯片检测的便捷度，改善检测环境，提高检测精确度，同时芯片位置的便捷更换，位置固定较方便，提高检测效率，适合大批量检测。
授权日期	2019-02-01
申请日期	2018-08-13
专利号	CN208459539U
专利状态	授权
申请号	CN201821292743.0
公开（公告）号	CN208459539U
IPC 分类号	G01R31/26
专利代理人	姚艳
代理机构	北京沁优知识产权代理事务所(普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38156
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	拓闻(天津)电子科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	刘增红,常浩,薛良. 一种半导体激光器芯片检测装置. CN208459539U[P]. 2019-02-01.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN208459539U.PDF（791KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文