OPT OpenIR  > 半导体激光器专利数据库
一种激光物证勘查仪
其他题名一种激光物证勘查仪
杨伟
2019-01-11
专利权人成都自序电子科技有限公司
公开日期2019-01-11
授权国家中国
专利类型实用新型
摘要本实用新型涉及一种激光物证勘查仪,包括基板、激光器阵列、准直器以及透镜,所述激光器阵列包括若干激光器,所述激光器均为半导体激光器,所述激光器阵列中的半导体激光器可以按照m×n二维阵列方式设置在所述基板上,或按照正三角形排列设置在所述基板上,或按照等腰三角形排列设置在所述基板上,半导体激光器产生的激光经所述准直器准直之后,从所述透镜射出;本激光物证勘查仪采用半导体激光器阵列作为激光光源,能够获得较窄的光谱线宽,并具有较高的电光转换效率不仅可使得杂光干扰小、物证勘察荧光效应明显,而且结构紧凑、体积小巧,在实际使用过程中勘察能力出众且便携性强。
其他摘要本实用新型涉及一种激光物证勘查仪,包括基板、激光器阵列、准直器以及透镜,所述激光器阵列包括若干激光器,所述激光器均为半导体激光器,所述激光器阵列中的半导体激光器可以按照m×n二维阵列方式设置在所述基板上,或按照正三角形排列设置在所述基板上,或按照等腰三角形排列设置在所述基板上,半导体激光器产生的激光经所述准直器准直之后,从所述透镜射出;本激光物证勘查仪采用半导体激光器阵列作为激光光源,能够获得较窄的光谱线宽,并具有较高的电光转换效率不仅可使得杂光干扰小、物证勘察荧光效应明显,而且结构紧凑、体积小巧,在实际使用过程中勘察能力出众且便携性强。
授权日期2019-01-11
申请日期2018-06-07
专利号CN208366847U
专利状态授权
申请号CN201820878042.9
公开(公告)号CN208366847U
IPC 分类号G01N21/64 | G02B27/09 | G02B27/30
专利代理人张玲 | 代平
代理机构北京市领专知识产权代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38053
专题半导体激光器专利数据库
作者单位成都自序电子科技有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
杨伟. 一种激光物证勘查仪. CN208366847U[P]. 2019-01-11.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN208366847U.PDF(928KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[杨伟]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[杨伟]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[杨伟]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。