一种半导体激光器及其检测系统

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	一种半导体激光器及其检测系统
其他题名	一种半导体激光器及其检测系统
	周少丰; 覃刚; 尹晓峰
	2018-12-18
专利权人	深圳市星汉激光科技有限公司
公开日期	2018-12-18
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型实施方式公开了一种半导体激光器及其检测系统，所述半导体激光器包括激光器外壳及激光器本体，所述激光器本体封装于所述激光器外壳内，所述激光器本体包括：半导体激光芯片，所述半导体激光芯片用于受激产生激光；以及，检测单元，所述检测单元包括采样电路和单片机，所述采样电路与所述半导体激光芯片连接，用于采集流经所述半导体激光芯片的电流和电压，所述单片机的电源端与所述半导体激光芯片连接，所述单片机的输入端与所述采样电路的输出端连接，用于记录所述采样电路采集的所述流经所述半导体激光芯片的电流和电压。通过上述方式，本实用新型实施方式能够获知半导体激光器工作时流经半导体激光芯片的电流和电压。
其他摘要	本实用新型实施方式公开了一种半导体激光器及其检测系统，所述半导体激光器包括激光器外壳及激光器本体，所述激光器本体封装于所述激光器外壳内，所述激光器本体包括：半导体激光芯片，所述半导体激光芯片用于受激产生激光；以及，检测单元，所述检测单元包括采样电路和单片机，所述采样电路与所述半导体激光芯片连接，用于采集流经所述半导体激光芯片的电流和电压，所述单片机的电源端与所述半导体激光芯片连接，所述单片机的输入端与所述采样电路的输出端连接，用于记录所述采样电路采集的所述流经所述半导体激光芯片的电流和电压。通过上述方式，本实用新型实施方式能够获知半导体激光器工作时流经半导体激光芯片的电流和电压。
授权日期	2018-12-18
申请日期	2018-06-20
专利号	CN208257114U
专利状态	授权
申请号	CN201820949096.X
公开（公告）号	CN208257114U
IPC 分类号	H01S5/042
专利代理人	宋建平
代理机构	深圳市六加知识产权代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/37926
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	深圳市星汉激光科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	周少丰,覃刚,尹晓峰. 一种半导体激光器及其检测系统. CN208257114U[P]. 2018-12-18.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN208257114U.PDF（444KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文