Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
Solder layer and electronic device bonding substrate and submount using the same | |
其他题名 | Solder layer and electronic device bonding substrate and submount using the same |
OSHIKA, YOSHIKAZU; NAKANO, MASAYUKI | |
2013-03-26 | |
专利权人 | DOWA ELECTRONICS MATERIALS CO., LTD. |
公开日期 | 2013-03-26 |
授权国家 | 美国 |
专利类型 | 授权发明 |
摘要 | A solder layer and an electronic device bonding substrate using the layer are provided which avoid deteriorating qualities of the electronic device to be bonded. In a solder layer 14 free from lead and formed on a substrate 11 or an electronic device bonding substrate 10 having such a solder layer, the solder layer 14 has a specific resistance of not more than 0.4 Ω·μm. The electronic device bonding substrate 10 can have a thermal resistance of not more than 0.5 K/W and a thickness of not more than 10 μm. Then, voids contained in the solder layer 14 have a maximum diameter of not more than 0.5 μm and the substrate can be a submount substrate. |
其他摘要 | 提供焊料层和使用该层的电子器件接合基板,其避免劣化待接合的电子器件的质量。在没有铅的焊料层14中形成在基板11上或具有这种焊料层的电子器件接合基板10上,焊料层14具有不大于0.4Ω·μm的电阻率。电子器件键合衬底10可以具有不大于0.5K / W的热阻和不大于10μm的厚度。然后,焊料层14中包含的空隙具有不大于0.5μm的最大直径,并且基板可以是子安装基板。 |
授权日期 | 2013-03-26 |
申请日期 | 2007-03-30 |
专利号 | US8404359 |
专利状态 | 授权 |
申请号 | US11/694920 |
公开(公告)号 | US8404359 |
IPC 分类号 | B32B5/18 | B32B15/01 | B23K1/00 | H01L33/32 | H01L33/62 |
专利代理人 | - |
代理机构 | CHEN YOSHIMURA LLP |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/37309 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | DOWA ELECTRONICS MATERIALS CO., LTD. |
推荐引用方式 GB/T 7714 | OSHIKA, YOSHIKAZU,NAKANO, MASAYUKI. Solder layer and electronic device bonding substrate and submount using the same. US8404359[P]. 2013-03-26. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
US8404359.PDF(329KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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