Verfahren zur Bestimmung der Winkelgeschwindigkeit mit Hilfe einer Halbleiter-Ringlaservorrichtung

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	Verfahren zur Bestimmung der Winkelgeschwindigkeit mit Hilfe einer Halbleiter-Ringlaservorrichtung
其他题名	Verfahren zur Bestimmung der Winkelgeschwindigkeit mit Hilfe einer Halbleiter-Ringlaservorrichtung
	MITSHUHASHI,YOSHINOBU; NAKAMURA YUKINOBU; SAKURAI KENJIRO; SHIMADA,JUNICHI
	1985-05-30
专利权人	HONDA GIKEN KOGYO K.K.
公开日期	1985-05-30
授权国家	德国
专利类型	授权发明
摘要	Bei einer Halbleiter-Ringlaservorrichtung mit einem Halbleiter-Laserelement und einem ringförmigen Oszillator wird ein Schwebungssignal, das von dem Frequenzunterschied zweier entgegengesetzt umlaufender Strahlen bei Drehung der Vorrichtung herrührt, als Veränderung derKlemmenspannung des Halbleiter-Laserelementes ermittelt.
其他摘要	提供一种半导体环形激光装置，其包括具有电端子和光学端子的半导体激光元件。电源装置连接到电端子，用于向其施加电压，光学装置光耦合到半导体激光元件的光端子。光学装置在顺时针和逆时针方向上形成由半导体发射的光的共振环光路。提供检测器装置，其耦合到所述电端子，用于检测由设备的旋转引起的其上的电压变化。
申请日期	1981-08-06
专利号	DE3131233C2
专利状态	失效
申请号	DE3131233
公开（公告）号	DE3131233C2
IPC 分类号	H01S3/083 \| G01C19/64 \| G01C19/66 \| G01P3/36 \| H01S5/00 \| H01S5/042 \| H01S5/10 \| G01P9/00
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34724
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	HONDA GIKEN KOGYO K.K.
推荐引用方式 GB/T 7714	MITSHUHASHI,YOSHINOBU,NAKAMURA YUKINOBU,SAKURAI KENJIRO,et al. Verfahren zur Bestimmung der Winkelgeschwindigkeit mit Hilfe einer Halbleiter-Ringlaservorrichtung. DE3131233C2[P]. 1985-05-30.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
DE3131233C2.PDF（261KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文