Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 晶粒之光電特性及外觀檢測系統 | |
| 其他题名 | 晶粒之光電特性及外觀檢測系統 |
| 徐榮祥; 楊勇峰; 薛永亮 | |
| 2019-09-01 | |
| 专利权人 | 駿曦股份有限公司 |
| 公开日期 | 2019-09-01 |
| 授权国家 | 中国台湾 |
| 专利类型 | 授权发明 |
| 摘要 | 本發明提供一種晶粒之光電特性及外觀檢測系統，包含有第一外觀檢測裝置進行晶粒正面檢測，移動裝置提取晶粒進行移動，第二外觀檢測裝置進行晶粒背面檢測，第一電性檢測裝置設置在滑軌裝置，以進行晶粒的第一電性檢測，第二電性檢測裝置進行晶粒的第二電性檢測，第三外觀檢測裝置設在滑軌裝置，以使第二電性檢測裝置位在第一、第三外觀檢測裝置間，第三外觀檢測裝置進行晶粒的側面檢測，檢測後將晶粒移至分類。本發明結合光學檢測及電性檢測，藉此一併檢測晶粒的光電特性及外觀，以增加檢測的速度。 |
| 其他摘要 | 本發明提供一種晶粒之光電特性及外觀檢測系統，包含有第一外觀檢測裝置進行晶粒正面檢測，移動裝置提取晶粒進行移動，第二外觀檢測裝置進行晶粒背面檢測，第一電性檢測裝置設置在滑軌裝置，以進行晶粒的第一電性檢測，第二電性檢測裝置進行晶粒的第二電性檢測，第三外觀檢測裝置設在滑軌裝置，以使第二電性檢測裝置位在第一、第三外觀檢測裝置間，第三外觀檢測裝置進行晶粒的側面檢測，檢測後將晶粒移至分類。本發明結合光學檢測及電性檢測，藉此一併檢測晶粒的光電特性及外觀，以增加檢測的速度。 |
| 申请日期 | 2018-09-04 |
| 专利号 | TWI670503B |
| 专利状态 | 授权 |
| 申请号 | TW107131042 |
| 公开（公告）号 | TWI670503B |
| IPC 分类号 | G01R31/01 | G01R31/26 | H01S5/00 |
| 专利代理人 | 江日舜 |
| 代理机构 | - |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34641 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 駿曦股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐榮祥,楊勇峰,薛永亮. 晶粒之光電特性及外觀檢測系統. TWI670503B[P]. 2019-09-01. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| TWI670503B.PDF（3095KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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