Laser production and product qualification via accelerated life testing based on statistical modeling

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	Laser production and product qualification via accelerated life testing based on statistical modeling
其他题名	Laser production and product qualification via accelerated life testing based on statistical modeling
	MIAO, SONG; LEI, CHUN; CORNELIUS, RAJ; KLAJIC, ALEX
	2006-03-28
专利权人	FINISAR CORPORATION
公开日期	2006-03-28
授权国家	美国
专利类型	授权发明
摘要	A method is provided for improving performance testing in semiconductor lasers via an accelerated life model. By using an accelerated life model, operating conditions for performance tests, such as burn-in procedures and wafer qualification, are optimized with reduced cost and effort. The method is also used to improve maintenance of optical networks containing semiconductor lasers.
其他摘要	提供了一种通过加速寿命模型来改善半导体激光器中的性能测试的方法。通过使用加速寿命模型，可以降低成本和工作量来优化性能测试的操作条件，例如老化程序和晶圆鉴定。该方法还用于改进包含半导体激光器的光网络的维护。
申请日期	2005-05-26
专利号	US7019548
专利状态	失效
申请号	US11/138602
公开（公告）号	US7019548
IPC 分类号	G01R31/26 \| H01S5/00
专利代理人	-
代理机构	WORKMAN NYDEGGER
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34601
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	FINISAR CORPORATION
推荐引用方式 GB/T 7714	MIAO, SONG,LEI, CHUN,CORNELIUS, RAJ,et al. Laser production and product qualification via accelerated life testing based on statistical modeling. US7019548[P]. 2006-03-28.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
US7019548.PDF（1054KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文