Pyrometer process temperature measurement for high power light sources

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	Pyrometer process temperature measurement for high power light sources
其他题名	Pyrometer process temperature measurement for high power light sources
	PRICE, R. KIRK; CANNON, SCOTT C.
	2016-02-16
专利权人	NLIGHT, INC.
公开日期	2016-02-16
授权国家	美国
专利类型	授权发明
摘要	A process measurement system for measuring a parameter of a work surface includes a light source configured to provide a material processing beam, an optical delivery system optically coupled to the light source and configured to homogenize and direct the material processing beam to the work surface, the optical delivery system including a process optic for optically coupling the material processing beam to the work surface in a predetermined way, the optical delivery system including a delivery waveguide having an output face optically coupled to the process optic, and an optical pyrometer in optical communication with the optical delivery system and configured to receive a pyrometer signal emitted from the work surface and coupled into said output face.
其他摘要	一种用于测量工作表面的参数的过程测量系统，包括：光源，被配置为提供材料处理光束;光学传送系统，光学地耦合到光源并且被配置为将材料处理光束均匀化并引导到工作表面，光学传送系统，包括用于以预定方式将材料处理光束光学耦合到工作表面的处理光学元件，光学传送系统包括具有光学耦合到处理光学元件的输出面的传送波导，以及与之光学通信的光学高温计。光学传送系统被配置为接收从工作表面发射并耦合到所述输出面的高温计信号。
申请日期	2012-08-27
专利号	US9261406
专利状态	授权
申请号	US13/595935
公开（公告）号	US9261406
IPC 分类号	G01J5/48 \| G01J5/00 \| G01K1/16 \| G01K11/32 \| G01K11/00 \| G01K11/12
专利代理人	-
代理机构	KLARQUIST SPARKMAN, LLP
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34527
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	NLIGHT, INC.
推荐引用方式 GB/T 7714	PRICE, R. KIRK,CANNON, SCOTT C.. Pyrometer process temperature measurement for high power light sources. US9261406[P]. 2016-02-16.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
US9261406.PDF（589KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文