Method and apparatus to determine a measurement of optical multiple path interference

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	Method and apparatus to determine a measurement of optical multiple path interference
其他题名	Method and apparatus to determine a measurement of optical multiple path interference
	BECKETT, DOUGLAS JAMES; HUI, RONQQING
	2001-11-13
专利权人	CIENA CORPORATION
公开日期	2001-11-13
授权国家	美国
专利类型	授权发明
摘要	A method and apparatus for measuring the magnitude of multiple path interference (MPI) in a device under test ("DUT") is disclosed. The DUT preferably forms part of an optical test system. The test system includes a light source, two back reflection paths, an output path, a lightwave signal analyzer and a computer. Before measuring MPI, the back reflection paths are calibrated. The input and output conditions are set and spectral data is collected. The spectral data is integrated to give a value for beat-noise power. The beat-noise power measurement allows generation of a crosstalk power ratio. The crosstalk power ratio is indicative of magnitude of multiple path interference.
其他摘要	公开了一种用于测量被测器件（“DUT”）中的多径干扰（MPI）的幅度的方法和装置。 DUT优选地形成光学测试系统的一部分。测试系统包括光源，两个后反射路径，输出路径，光波信号分析器和计算机。在测量MPI之前，校准后反射路径。设置输入和输出条件并收集光谱数据。光谱数据被积分以给出节拍噪声功率的值。差拍功率测量允许产生串扰功率比。串扰功率比表示多径干扰的幅度。
申请日期	1998-12-22
专利号	US6317214
专利状态	失效
申请号	US09/217909
公开（公告）号	US6317214
IPC 分类号	G01M11/00 \| G01B9/02
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34466
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	CIENA CORPORATION
推荐引用方式 GB/T 7714	BECKETT, DOUGLAS JAMES,HUI, RONQQING. Method and apparatus to determine a measurement of optical multiple path interference. US6317214[P]. 2001-11-13.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
US6317214.PDF（693KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文