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用以校準、操作、及設定武器中之雷射二極體的系統和方法
其他题名用以校準、操作、及設定武器中之雷射二極體的系統和方法
納罕 瑪格尼
2019-08-01
专利权人美商愛克勝企業公司
公开日期2019-08-01
授权国家中国台湾
专利类型授权发明
摘要用以校準、操作、及設定由導電武器(“CEW”)中之雷射二極體所提供之光功率之量值的系統和方法,雷射二極體之光藉由提供CEW之線栓電極的預計彈著點之可見指示來協助定標,校準程序致使CEW之雷射二極體能夠操作於由雷射器所允許之光的最大輸出功率的地區指導方針之內,該方法進一步允許由雷射二極體所提供之光功率的量值能夠被設定和操作於現場中之改變的環境條件下。
其他摘要用以校準、操作、及設定由導電武器(“CEW”)中之雷射二極體所提供之光功率之量值的系統和方法,雷射二極體之光藉由提供CEW之線栓電極的預計彈著點之可見指示來協助定標,校準程序致使CEW之雷射二極體能夠操作於由雷射器所允許之光的最大輸出功率的地區指導方針之內,該方法進一步允許由雷射二極體所提供之光功率的量值能夠被設定和操作於現場中之改變的環境條件下。
申请日期2017-08-11
专利号TWI667446B
专利状态授权
申请号TW106127345
公开(公告)号TWI667446B
IPC 分类号F41G1/54 | G01J1/18 | G01J1/42 | H01S5/042 | H01S5/06 | H01S5/068 | H01S5/0683
专利代理人林志剛
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34360
专题半导体激光器专利数据库
作者单位美商愛克勝企業公司
推荐引用方式
GB/T 7714
納罕 瑪格尼. 用以校準、操作、及設定武器中之雷射二極體的系統和方法. TWI667446B[P]. 2019-08-01.
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