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半導体レーザ素子及びその製造方法
其他题名半導体レーザ素子及びその製造方法
福久 敏哉
2007-06-15
专利权人松下電器産業株式会社
公开日期2007-09-05
授权国家日本
专利类型授权发明
摘要【課題】 モノリシック型の半導体レーザ素子の特性を向上させる。 【解決手段】 n型GaAs基板10の上に、n型GaAs層よりなる第1のバッファ層11、n型GaInP層よりなるエッチング制御層12、n型GaAs層よりなる第2のバッファ層13、n型AlGaAs層14、GaAs層15及びp型AlGaAs層16を順次成長させた後、第1のバッファ層11が露出するまでウェットエッチングを行なって、第1のn型クラッド層14A、第1の活性層15A及び第1のp型クラッド層16Aよりなる赤外半導体レーザ構造を形成する。次に、n型AlGaInP層17、GaInP層18及びp型AlGaInP層19を順次成長させた後、この積層体をパターニングして、第2のn型クラッド層17A、第2の活性層18A及び第2のp型クラッド層19Aからなる赤色半導体レーザ構造を形成する。
其他摘要改善单片半导体激光器件的特性。 由n型GaAs层构成的第一缓冲层,n型GaInP层的蚀刻控制层,n型GaAs层的第二缓冲层,依次生长n型AlGaAs层14,GaAs层15和p型AlGaAs层16,然后进行湿法蚀刻直到第一缓冲层11暴露以形成第一n型包覆层14A,第一由此形成包括有源层15A和第一p型包覆层16A的红外半导体激光器结构。接下来,在依次生长n型AlGaInP层17,GaInP层18和p型AlGaInP层19之后,将该层叠体图案化以形成第二n型包覆层17A,第二有源层18A和2个p型包层19 A.
申请日期2000-11-15
专利号JP3971566B2
专利状态失效
申请号JP2000347929
公开(公告)号JP3971566B2
IPC 分类号H01S5/22 | G11B7/125 | G11B7/22 | H01L21/306 | H01S5/323
专利代理人前田 弘 | 小山 廣毅 | 竹内 宏 | 嶋田 高久 | 竹内 祐二 | 今江 克実 | 手島 勝 | 藤田 篤史
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/33705
专题半导体激光器专利数据库
作者单位松下電器産業株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
福久 敏哉. 半導体レーザ素子及びその製造方法. JP3971566B2[P]. 2007-06-15.
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