光ディスク装置、光ディスクおよび光ディスク検査方法

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	光ディスク装置、光ディスクおよび光ディスク検査方法
其他题名	光ディスク装置、光ディスクおよび光ディスク検査方法
	中井賢也; 大牧正幸
	2014-09-26
专利权人	三菱電機株式会社
公开日期	2014-09-26
授权国家	日本
专利类型	授权发明
摘要	光ディスク装置は、超解像再生が可能な光ディスク（６）を用いるものであり、半導体レーザ（１）と、半導体レーザ（１）に駆動電流を供給するレーザ駆動回路（２１）と、光ディスク（６）からの戻り光を検出して記録データの再生信号を得る受光素子（８）と、光ディスク６の情報記録層に形成される集光スポットのピーク強度を、超解像効果が得られるピーク強度以上に保つよう、レーザ駆動回路（２１）による半導体レーザ（１）の発光光量を制御する発光光量制御手段（２２）とを備える。発光光量制御手段（２２）は、想定されるディスクチルト角と、光ディスク（１）の光透過層の厚みに応じたコマ収差とから求められる、光ディスク（１）の情報記録層における集光スポットのピーク強度の低下率Ｄと、所定の再生性能が得られる発光光量の下限値（Ｐｌｄ＿Ｌ）とに基づいて、レーザ駆動回路（２１）による半導体レーザ（１）の発光光量を制御する。
其他摘要	光盘装置，其采用能够超分辨率再生的光盘（6），半导体激光器（1），用于供应驱动电流至半导体激光器（1）（21），光盘的激光驱动电路（6 ）和光接收元件，以获得记录数据的再现信号中检测到（8）返回从的形成在光盘6的信息记录层上会聚点，获得峰值超分辨率效应强度的峰强度的光以保持的上方，并且一个发光量控制装置，用于控制光从半导体激光器（1）（22）由激光驱动电路（21）发出的光量。发射光量控制装置（22）包括一盘倾斜角度被假定是从对应于光盘的光透过层的厚度的彗形像差（1）获得，该光盘的信息记录层中的聚光点（1）的得到的峰强度的减少率和d的基础上，一个预定的再现性能的光发射量的下限（Pld_L），控制光的通过激光驱动电路（21），从半导体激光器（1）发射的光量。
申请日期	2012-01-06
专利号	JP5619184B2
专利状态	授权
申请号	JP2012551888
公开（公告）号	JP5619184B2
IPC 分类号	G11B7/005 \| G11B7/1263 \| G11B7/1267
专利代理人	前田実 \| 山形洋一 \| 篠原昌彦
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/32952
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	三菱電機株式会社
推荐引用方式 GB/T 7714	中井賢也,大牧正幸. 光ディスク装置、光ディスクおよび光ディスク検査方法. JP5619184B2[P]. 2014-09-26.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
JP5619184B2.PDF（351KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文