半导体激光器综合性能测试系统

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	半导体激光器综合性能测试系统
其他题名	半导体激光器综合性能测试系统
	文少剑; 廖东升
	2019-10-18
专利权人	深圳市杰普特光电股份有限公司
公开日期	2019-10-18
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	一种半导体激光器综合性能测试系统，包括测试平台、光学模组、设置在测试平台上的功率检测组件、设置在测试平台上的光谱检测机构、及数据处理装置；光学模组包括设置在测试平台上的光学整形透镜、及与光学整形透镜对应的偏振分光器件；功率检测组件包括与偏振分光器件对应的第一功率计、第二功率计；第一功率计、第二功率计的功率检测值输出至数据处理装置；光谱检测机构包括设置在测试平台上的支架、连接支架的测试光纤、及连接测试光纤的光谱采集器；光谱采集器转换产生的光谱数据输出至数据处理装置；支架与光学模组对应设置；数据处理装置同时根据光谱数据而分析得出半导体激光器的波长特性，从而提高了对半导体激光器的测试效率。
其他摘要	一种半导体激光器综合性能测试系统，包括测试平台、光学模组、设置在测试平台上的功率检测组件、设置在测试平台上的光谱检测机构、及数据处理装置；光学模组包括设置在测试平台上的光学整形透镜、及与光学整形透镜对应的偏振分光器件；功率检测组件包括与偏振分光器件对应的第一功率计、第二功率计；第一功率计、第二功率计的功率检测值输出至数据处理装置；光谱检测机构包括设置在测试平台上的支架、连接支架的测试光纤、及连接测试光纤的光谱采集器；光谱采集器转换产生的光谱数据输出至数据处理装置；支架与光学模组对应设置；数据处理装置同时根据光谱数据而分析得出半导体激光器的波长特性，从而提高了对半导体激光器的测试效率。
申请日期	2019-02-15
专利号	CN209513218U
专利状态	授权
申请号	CN201920204023
公开（公告）号	CN209513218U
IPC 分类号	G01M11/00
专利代理人	易长乐
代理机构	广州华进联合专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/32196
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	深圳市杰普特光电股份有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	文少剑,廖东升. 半导体激光器综合性能测试系统. CN209513218U[P]. 2019-10-18.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN209513218U.PDF（1079KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文