一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探测装置

OPT OpenIR > 先进光学仪器研究室

	一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探测装置
	余建成; 张伟刚; 寇经纬; 王彦超; 眭越
	2018-11-05
专利权人	中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期	2019-02-22
授权国家	中国
专利类型	发明专利
产权排序	1
摘要	为解决现有探测装置动态范围小、信噪比低、可靠性较低、集成度低、功耗较大的问题，本发明提供了一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探测装置，包括：置于真空腔体中的像元尺寸大于13um，读出噪声小于5e?，响应非均匀性小于1％的CCD芯片；为CCD芯片提供工作电压、根据设定参数为CCD芯片提供正确的驱动信号和驱动时序，及控制CCD芯片正常工作的CCD驱动单元；低噪声的信号调理转换单元；用于存储信号调理转换单元输出的数字信号的数据存储单元；用于控制CCD驱动单元、信号调理转换单元、数据存储单元工作，以及接收、解析、响应、执行上位机命令的控制单元；用于对CCD芯片进行制冷的制冷单元。本发明具有信噪比高、动态范围大、可靠性高、功耗低的优点。
主权项	一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探测装置，其特征在于，包括：CCD芯片，用于进行激光探测以及光电转换，最终输出模拟电信号；所述CCD芯片的像元尺寸大于13um，读出噪声小于5e-，响应非均匀性小于1％；CCD芯片置于真空腔体中； CCD驱动单元，为CCD芯片提供工作电压、根据设定参数为CCD芯片提供正确的驱动信号和驱动时序，以及控制CCD芯片正常工作；信号调理转换单元，采用低噪声设计，用于将CCD芯片输出的模拟电信号进行放大、调理和模数转换，进而输出数字信号；数据存储单元，用于存储信号调理转换单元输出的数字信号；控制单元，用于控制CCD驱动单元、信号调理转换单元、数据存储单元工作，以及接收、解析、响应、执行来自上位机的命令；通信单元，用于实现控制单元与上位机之间的数据通信功能；制冷单元，与控制单元相连，用于对CCD芯片进行制冷。
申请日期	2018-11-05
专利号	CN201811308086.9
语种	中文
专利状态	申请中
申请号	CN201811308086.9
公开（公告）号	CN109374126A
IPC 分类号	G01J1/42 ; G01J1/44
专利代理人	杨引雪
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31782
专题	先进光学仪器研究室
作者单位	中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位	中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	余建成,张伟刚,寇经纬,等. 一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探测装置. CN201811308086.9[P]. 2018-11-05.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探（1615KB）	专利		限制开放	CC BY-NC-SA	请求全文