OPT OpenIR  > 空间科学微光探测技术研究室
Optimum design of electron bombarded active pixel sensor for low-level light single photon imaging
Bai, Jinzhou1,2; Wang, Bo1; Bai, Yonglin1; Cao, Weiwei1; Yang, Yang1; Lei, Fanpu1; Su, Dan2
2019
会议名称9th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies (AOMATT) - Optoelectronic Materials and Devices for Sensing and Imaging
会议录名称9TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ADVANCED OPTICAL MANUFACTURING AND TESTING TECHNOLOGIES: OPTOELECTRONIC MATERIALS AND DEVICES FOR SENSING AND IMAGING
会议日期2018-06-26
会议地点Chengdu, PEOPLES R CHINA
产权排序1
关键词EBAPS LLLI single photon detection charge collection efficiency
作者部门空间科学微光探测技术研究室
DOI10.1117/12.2506350
收录类别EI ; CPCI
ISBN号9781510623286
语种英语
ISSN号0277786X;1996759X
WOS记录号WOS:000465823200030
EI入藏号20191006603239
引用统计
被引频次:1[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31299
专题空间科学微光探测技术研究室
作者单位1.Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology of CAS, Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi'an; 710119, China;
2.University of Chinese Academy of Sciences, Beijing; 100094, China
推荐引用方式
GB/T 7714
Bai, Jinzhou,Wang, Bo,Bai, Yonglin,et al. Optimum design of electron bombarded active pixel sensor for low-level light single photon imaging[C],2019.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
Optimum design of el(928KB)会议论文 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[Bai, Jinzhou]的文章
[Wang, Bo]的文章
[Bai, Yonglin]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[Bai, Jinzhou]的文章
[Wang, Bo]的文章
[Bai, Yonglin]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[Bai, Jinzhou]的文章
[Wang, Bo]的文章
[Bai, Yonglin]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。