一种近距离三维姿态测量装置及测量方法

doi:G01C11

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	一种近距离三维姿态测量装置及测量方法
其他题名	一种近距离三维姿态测量装置及测量方法
	郝冲; 王致强; 吴易明; 朱帆
	2018-12-21
专利权人	中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期	2018-08-28
授权国家	中国
专利类型	发明专利
产权排序	1
摘要	本发明涉及一种近距离三维姿态测量装置及测量方法，解决现有测量方法测量精度低、测量系统装置复杂的问题。装置包括合作目标、物镜前组、物镜中组、半透半反棱镜、物镜后组、成像接收单元、数据处理模块和准直发射单元；准直发射单元包括点光源、准直扩束镜组、分划板和反射镜，点光源通过准直扩束镜组发出的光束被反射至半透半反棱镜，反射后的光通过物镜中组、物镜前组射向平面反射镜，被平面反射镜反射后光束再沿着物镜前组、物镜中组、半透半反棱镜和物镜后组被成像接收单元接收；成像接收单元通过物镜后组、半透半反棱镜、物镜中组和物镜前组对合作目标上的合作标识进行成像，本发明还提供一种基于上述装置的三维姿态测量方法。
主权项	一种近距离三维姿态测量装置，其特征在于：包括合作目标(8)、物镜前组(7)、物镜中组(5)、半透半反棱镜(4)、物镜后组(3)、成像接收单元(1)、数据处理模块(6)和准直发射单元(2)；所述合作目标(8)安装于待测对象上，包括用于准直测量的平面反射镜(81)和用于成像测量的合作标识(82)；所述合作目标(8)、物镜前组(7)、物镜中组(5)、半透半反棱镜(4)、物镜后组(3)、成像接收单元(1)依次设置；所述准直发射单元(2)包括依次设置的点光源(21)、准直扩束镜组(22)、分划板(23)和反射镜(24)，点光源(21)通过准直扩束镜组(22)发出的准直测量光束被反射镜(24)反射至半透半反棱镜(4)，被半透半反棱镜(4)反射后的光通过物镜中组(5)、物镜前组(7)射向平面反射镜(81)，被平面反射镜(81)反射后光束再沿着物镜前组(7)、物镜中组(5)、半透半反棱镜(4)和物镜后组(3)被成像接收单元(1)接收；所述成像接收单元(1)通过物镜后组(3)、半透半反棱镜(4)、物镜中组(5)和物镜前组(7)对合作目标(8)上的合作标识(82)进行成像；所述数据处理模块(6)与成像接收单元(1)连接，对成像接收单元(1)控制。
学科领域	G01c11/02
学科门类	G01
授权日期	2018-12-21
DOI	G01C11
申请日期	2018-02-02
专利号	CN201810107136.0
语种	中文
专利状态	申请中
申请号	CN201810107136.0
PCT属性	否
公开（公告）号	CN108458692A
IPC 分类号	G01C11/02
专利代理人	杨引雪
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司
引用统计
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31023
专题	热控技术研究室_其它单位_其它部门
作者单位	中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位	中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	郝冲,王致强,吴易明,等. 一种近距离三维姿态测量装置及测量方法. CN201810107136.0[P]. 2018-12-21.

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文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
2018101071360.pdf（2335KB）	专利		限制开放	CC BY-NC-SA	请求全文