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一种近距离三维姿态测量装置及测量方法
其他题名一种近距离三维姿态测量装置及测量方法
郝冲; 王致强; 吴易明; 朱帆
2018-12-21
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2018-08-28
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明涉及一种近距离三维姿态测量装置及测量方法,解决现有测量方法测量精度低、测量系统装置复杂的问题。装置包括合作目标、物镜前组、物镜中组、半透半反棱镜、物镜后组、成像接收单元、数据处理模块和准直发射单元;准直发射单元包括点光源、准直扩束镜组、分划板和反射镜,点光源通过准直扩束镜组发出的光束被反射至半透半反棱镜,反射后的光通过物镜中组、物镜前组射向平面反射镜,被平面反射镜反射后光束再沿着物镜前组、物镜中组、半透半反棱镜和物镜后组被成像接收单元接收;成像接收单元通过物镜后组、半透半反棱镜、物镜中组和物镜前组对合作目标上的合作标识进行成像,本发明还提供一种基于上述装置的三维姿态测量方法。
主权项一种近距离三维姿态测量装置,其特征在于:包括合作目标(8)、物镜前组(7)、物镜中组(5)、半透半反棱镜(4)、物镜后组(3)、成像接收单元(1)、数据处理模块(6)和准直发射单元(2);所述合作目标(8)安装于待测对象上,包括用于准直测量的平面反射镜(81)和用于成像测量的合作标识(82); 所述合作目标(8)、物镜前组(7)、物镜中组(5)、半透半反棱镜(4)、物镜后组(3)、成像接收单元(1)依次设置; 所述准直发射单元(2)包括依次设置的点光源(21)、准直扩束镜组(22)、分划板(23)和反射镜(24),点光源(21)通过准直扩束镜组(22)发出的准直测量光束被反射镜(24)反射至半透半反棱镜(4),被半透半反棱镜(4)反射后的光通过物镜中组(5)、物镜前组(7)射向平面反射镜(81),被平面反射镜(81)反射后光束再沿着物镜前组(7)、物镜中组(5)、半透半反棱镜(4)和物镜后组(3)被成像接收单元(1)接收; 所述成像接收单元(1)通过物镜后组(3)、半透半反棱镜(4)、物镜中组(5)和物镜前组(7)对合作目标(8)上的合作标识(82)进行成像; 所述数据处理模块(6)与成像接收单元(1)连接,对成像接收单元(1)控制。
学科领域G01c11/02
学科门类G01
授权日期2018-12-21
DOIG01C11
申请日期2018-02-02
专利号CN201810107136.0
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201810107136.0
PCT属性
公开(公告)号CN108458692A
IPC 分类号G01C11/02
专利代理人杨引雪
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
引用统计
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31023
专题其它单位_其它部门
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
郝冲,王致强,吴易明,等. 一种近距离三维姿态测量装置及测量方法. CN201810107136.0[P]. 2018-12-21.
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