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一种宽谱段高分辨光谱干涉测量装置
其他题名一种宽谱段高分辨光谱干涉测量装置
严强强; 魏儒义; 陈莎莎; 于建东; 王帅
2018-12-21
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2018-10-26
授权国家中国
专利类型实用新型
产权排序1
摘要本实用新型涉及一种宽谱段高分辨光谱干涉测量装置,包括沿光路依次设置的第一色散系统、像切分器、第一聚光模块、第二准直模块、干涉模块、光压缩模块、第三准直模块、第二色散系统及探测器;首先将目标光准直后色散至探测器行像元或列像元上;然后按照不同谱段反射至同一平面的不同位置;再将反射光束准直后进入干涉模块获得干涉条纹;再将干涉条纹沿与干涉条纹垂直方向压缩;最后将压缩后的干涉条纹沿探测器行像元方向或列像元方向进行二次色散,获得高分辨光谱干涉条纹。解决了宽谱段高分辨率光谱干涉受到探测器行或者列像元数限制、交叉色散导致光谱谱线弯曲等的问题,实现一种宽谱段,高精度,高信噪比的视向速度探测方案。
主权项一种宽谱段高分辨光谱干涉测量装置,其特征在于:包括沿光路依次设置的第一色散系统、像切分器、第一聚光模块、第二准直模块、干涉模块、光压缩模块、第三准直模块、第二色散系统及探测器; 所述第一色散系统包括沿光路依次设置的第一准直模块及第一色散模块; 第一准直模块将点目标扩展为面平行光进入第一色散模块进行分光,第一色散模块将面平行光沿探测器行像元或列像元方向色散,色散光束传播至像切分器,像切分器将色散光束进行切割,使不同谱段沿不同角度反射,反射方向垂直于第一色散模块色散方向;第一聚光模块将像切分器的反射光束进行汇聚后进入第二准直模块进行准直,获得不同谱段的平行光束;不同谱段的平行光束进入干涉模块获得垂直于第一色散模块色散方向的干涉条纹;光压缩模块将干涉模块出射的干涉条纹沿探测器行像元或列像元方向压缩后通过第三准直模块准直后进入第二色散系统,第二色散系统将平行光沿探测器行像元或列像元方向进行二次色散,在探测器不同区域上获得各个谱段的干涉条纹。
学科领域G01j3/45
学科门类G01
授权日期2018-12-21
DOIG01J3
申请日期2018-03-15
专利号CN201820355201.7
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201820355201.7
PCT属性
公开(公告)号CN208012761U
IPC 分类号G01J3/45 ; G01J3/28 ; G01J3/02
专利代理人汪海艳
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
引用统计
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/30972
专题其它单位_其它部门
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
严强强,魏儒义,陈莎莎,等. 一种宽谱段高分辨光谱干涉测量装置. CN201820355201.7[P]. 2018-12-21.
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