OPT OpenIR  > 空间光学应用研究室
一种基于故障‑测试相关矩阵的故障诊断方法
王锋涛; 宋宗玺; 高伟; 杜云飞; 郑培云; 李宝鹏; 淡丽军; 雷浩
2016-08-03
公开日期2016-12-21
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明是一种基于故障‑测试相关矩阵的故障诊断方法,包括以下步骤:1)通过系统的相关性图示模型确定系统故障‑测试相关矩阵D;2)建立贝叶斯网络节点;3)根据矩阵D中各元素取值连接步骤2)中的两层贝叶斯网络节点;4)为表示故障的贝叶斯网络根节点设置条件概率表;5)为表示测试项的贝叶斯网络叶节点设置条件概率表;6)根据各测试项的测试结果设置证据变量;7)获得诊断结果;本发明提出的基于故障‑测试相关矩阵的故障诊断方法,可用简洁直观的图形描述故障与测试间的逻辑关系,有效融合了系统各故障发生的概率,克服了现有的直接应用相关矩阵进行故障诊断方法存在的缺陷,使诊断分析结果比相关矩阵更加定量。
主权项1)通过系统的相关性图示模型确定系统故障-测试相关矩阵D;其中,矩阵D中,每一行对应系统中的唯一单元的故障,每一列对应系统中的唯一测试项;即,对于有m个组成单元, n个测试项的系统,相关矩阵D有m行n列数据;
授权日期2017-01-18
专利号CN201610629637.6
语种中文
专利状态审查中-实审
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/29750
专题空间光学应用研究室
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
王锋涛,宋宗玺,高伟,等. 一种基于故障‑测试相关矩阵的故障诊断方法. CN201610629637.6[P]. 2016-08-03.
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