一种双光路探测横向剪切干涉仪 | |
邹纯博; 李立波; 白清兰; 胡炳樑; 刘学斌; 孙剑 | |
2015-08-21 | |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 实用新型 |
授权日期 | 2015-12-23 |
专利号 | ZL201520636385.3 |
语种 | 中文 |
专利状态 | 授权 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/27680 |
专题 | 光谱成像技术研究室 |
作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
第一作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 邹纯博,李立波,白清兰,等. 一种双光路探测横向剪切干涉仪. ZL201520636385.3[P]. 2015-08-21. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN201520490276600000(249KB) | 专利 | 限制开放 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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