Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 一种基于硅漂移探测器的X射线能谱测量的方法 | |
徐能1,2; 陈琛1 ; 盛立志1; 赵宝升1
| |
| 2015 | |
| 会议名称 | 2015年（第七届）西部光子学学术会议 |
| 会议录名称 | 2015 年（第七届）西部光子学学术会议论文集 |
| 会议日期 | 2015-10-17 |
| 会议地点 | 中国陕西西安 |
| 产权排序 | 1 |
| 摘要 | 硅漂移探测器(Silicon Drift Detector,SDD)对1~10keV软X射线具有较高的探测效率和较高的能量分辨,将其应用于X射线脉冲星导航中微弱X射线探测,可以减小探测器面积同时提高信噪比。本文提出了一种易于实现的基于SDD的能谱测量方法。分析了将SDD探测器输出的原始阶梯信号整形成负指数脉冲信号的优势,并讨论了采样速率、光子计数率和负指数脉冲时间常数之间的关系。负指数脉冲信号经过AD采样后进行数字信号处理,其中重点介绍了梯形成形和基线恢复。讨论了数字梯形成形相对于模拟成形的优势,用Z变换的方法推导了如何将负指数脉冲变换成梯形,给出了用FPGA实时实现该算法的方法,并分析了梯形... |
| 关键词 | 硅漂移探测器 负指数脉冲 梯形成形 基线恢复 |
| 作者部门 | 光电子学研究室 |
| 收录类别 | 其他 |
| 语种 | 中文 |
| 文献类型 | 会议论文 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/27598 |
| 专题 | 会议录_2015 年（第七届）西部光子学学术会议论文集 |
| 作者单位 | 1.中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点实验室 2.中国科学院大学研究生院 |
| 第一作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐能,陈琛,盛立志,等. 一种基于硅漂移探测器的X射线能谱测量的方法[C],2015. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 一种基于硅漂移探测器的X射线能谱测量的方（1507KB） | 会议论文 | 限制开放 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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