OPT OpenIR  > 光谱成像技术研究室
静态双通道多普勒外差干涉仪
冯玉涛; 严鹏; 孙剑; 白清兰
2012-12-24
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2013-04-24
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明提供了一种静态双通道多普勒外差干涉仪,以实现两个中心波长目标谱线多普勒频移的测量。该干涉仪包括干涉仪入瞳、准直系统、分束棱镜、闪耀光栅组件、条纹成像系统和探测器阵列,其中分束棱镜的核心部件是50:50半反半透的消偏振分光膜,条纹成像系统包括前镜组和后镜组,闪耀光栅组件包括:反射光路上分别设置的第一闪耀光栅、第二闪耀光栅,第三闪耀光栅、第四闪耀光栅,四块光栅的工作面法线与相应的入射光轴均成Littrow角,其中第一与第三,第二与第四闪耀光栅构成对应的工作光栅以实现各自波长的干涉,每组对应的工作光栅的光栅工作面中心沿光路至分束棱镜中心的距离之差形成该干涉仪的基础光程差。
申请日期2012-12-24
专利号CN103063306
申请号CN201210567771
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/21370
专题光谱成像技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
冯玉涛,严鹏,孙剑,等. 静态双通道多普勒外差干涉仪. CN103063306[P]. 2012-12-24.
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静态双通道多普勒外差干涉仪.pdf(396KB) 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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