| 天基探测与跟踪成像系统测试装置及测试方法 |
| 田留德; 张周峰; 薛勋; 赵建科; 赛建刚; 曹昆; 周艳
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| 2012-03-28
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| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明
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| 产权排序 | 1
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| 摘要 | 本发明提供一种天基探测与跟踪成像系统测试装置及测试方法。其测试装置包括气浮台(1)、高精度动靶标(4)、搭载于高精度动靶标上用以提供无穷远拍摄目标的平行光管、以及安装于气浮台(1)上的角速度测量装置；天基探测与跟踪成像系统作为被测系统(5)同轴固定安装于气浮台(1)的转动台面上，且被测系统的三轴交点为高精度动靶标(4)旋转光锥顶点；转动平台沿其切线方向栓接牵引线并通过绕接定滑轮悬挂砝码(2)，利用砝码自重对转动平台施加切向力。本发明实现了对天基探测与跟踪成像系统多个重要性能指标的测试，从而进行进一步的调整和优化，保证产品的质量，确保天基探测与跟踪成像系统质量和在轨正常运行。 |
| 申请日期 | 2011-11-21
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| 专利号 | CN102393213
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| 申请号 | CN201110370922
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| 专利代理人 | 徐平
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/21078
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| 专题 | 检测技术研究中心
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
田留德,张周峰,薛勋,等. 天基探测与跟踪成像系统测试装置及测试方法. CN102393213[P]. 2012-03-28.
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