一种基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定系统
达争尚; 刘力; 田新锋; 李东坚
2010-08-11
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2010-08-11
授权国家中国
专利类型外观设计
学科领域物理
申请日期2009-10-23
专利号CN200920244867.6
资助项目光束控制与参数测量系统
语种中文
专利状态授权
申请号CN200920244867.6
专利代理人商宇科 ; 李东京
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/13586
专题中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
达争尚,刘力,田新锋,等. 一种基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定系统. CN200920244867.6[P]. 2010-08-11.
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