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一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011109442.1, 申请日期: 2021-10-15, 公开日期: 2021-03-12
发明人:  陈铁桥;  李思远;  李海巍;  王爽;  刘学斌;  张耿;  冯向朋;  陈小来;  刘强;  刘佳;  刘杰;  王一豪
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